-
音響顕微鏡検査
-
Automated Optical Inspection & Metrology
-
自動線検査
-
自動線計測
-
ボンドテスト
-
線成分計数
-
手動X線検査
-
ウェハーセンス＆レティクルセンス
-
X線テクノロジー
-
Nordson Intelligence AI
-
Nordson MIPS - AXI SoftwareAXI Dynamic Planar CT
自動X線検査ソフトウェア用アドバンスド収集モード -
Nordson Paragon - BT Software
N-Paragon Lite
- ゴールドスタンダード Stellar 4000 ボンドテスター専用 -
Nordson Revalution - MXI Software
-
Nordson AOI CMM SPI
-
Nordson Sight - SPC SoftwareN-Sight
AOI検査・計測システム用SMT検査・完全SPCソフトウェアソリューション -
Nordson Spectrum - WS & RS SoftwareN-Spectrum WaferSense & ReticleSense Software Solutions
新型インラインパーティクルセンサーおよびすべてのウェハーセンス、レティクルセンス装置専用
Nordson Intelligence
成果を加速 - 柔軟で迅速な変更を可能にする、製造向けに設計された Nordson Intelligence
従来のアプローチ では不可能だったスループットの大幅な向上と検出機能を提供するアルゴリズムのファミリーがNordson Intelligenceには備わっており、ユーザー自身が検査結果の精度をを改善でき、さまざまな用途に対応可能なソリューションを迅速に展開することができます
アドバンスト計測検査&
高精度高解像度高速
Nordson Test && Inspection は、世界レベルでの計測と検査のシステムとセンサーをお客様へ提供しております&。弊社の検査計測機器は、電子部品・機器組み立ておよび半導体製品生産現場で最高水準を満たしています。製品としては、音響顕微鏡、光学検査、接合試験、X線部品カウンタ、解析用X線装置、自動X線装置により、微細な欠陥を高解像度で検出し、重要な計測値を取得可能です。 ワイヤレス半導体センサー製品 は、半導体用プロセス装置の設定メンテナンスを効率よくこなすことができます。
弊社は、AI、サーバー５G、コンシューマー、自動車、&電力エネルギー、センサーLED、航空宇宙防衛、&医療など幅広い業界向けに革新的な検査計測機器を設計、&開発、&製造しております。&
弊社が取り扱っている主要分野業種は、アドバンストＳＭＴ、アドバンストパッケージング、半導体フロントエンド、半導体ミッドエンド、半導体バックエンドになります 。
正確な検査&計測機器は、製品の品質を向上させることができます。時間とコスト節約を求めているのであれば、製造している半導体や電子機器の歩留まり、プロセス、生産性を向上させたいとお考えなら、弊社検査装置が常に優れた品質を保証するのにお役に立ちます。
検査・計測機器
当社の検査・計測機器は、世界中で広く認められています。以下に、実績ある世界クラスの非破壊ソリューションの一部をご紹介します。
AMI SpinSAM - スキャニング - 音響 - 顕微鏡
4 枚の 300mm ウェーハ検査で業界をリードするスループット クラス最高の設置スペース / UPH 最先端の欠陥キャプチャと画像品質 メンテナンスが容易なモジュール式設計 工場とのコミュニケーションによる検査と分析の完全な自動化
詳細はこちらSQ7000+TM 3次元AOI、SPI、CMM用マルチファンクション
マルチ・リフレクション・サプレッション®（MRS®）センサー技術を搭載したSQ7000+マルチファンクションシステムは、高分解能、高精度、高速の検査・計測を提供し、AOI、SPI、CMMをインラインで実行できる市場で唯一のシステムです。
詳細はこちらMXI QUADRA™ 7 Pro
Quadra™ Pro シリーズ は、超高解像度の画像を作成します。社内設計の高性能 Dual Mode NT4 X 線管と Onyx 検出器で微細な部分まで詳細に可視化し、欠陥を直ちに検知します。もはやなにも隠せません。
詳細はこちらSQ3000M2
ワイヤボンドアプリケーションに最適な優れたパフォーマンス。 SQ3000M2自動光学検査 (AOI) により、製品品質 が最大化されます。 収量、プロセス、生産性を向上させ、現場からのコストのかかる返品を削減します。
詳細はこちらAMI Gen7 C-SAM®
新世代のC-SAMテクノロジー。 実験室での分析や特殊な高解像度アプリケーションのための、最も洗練されたフル機能のC-SAM音響顕微鏡です。 日本語のカタログは「お問合わせ」よりご請求ください。
詳細はこちら4000Plus
4000Plusは、ボンドテストの業界スタンダードに設定され、データの卓越した精度と再現性を提供し、結果に完全な信頼性を提供します。 日本語のカタログは「お問合わせ」よりご請求ください。
詳細はこちらX線コンポーネントカウンターを保証 - 私たちにお任せください
適切な時期に適切な場所に適切な量の適切な材料。 世界初のX線コンポーネント カウンターであるAssure™ を使用して、生産をスムーズに実行し、コスト効率を高めます。
詳細はこちらソフトウェアの今日と明日を形作る
検査・計測機器を強化するために。
ノードソン テスト＆インスペクションの業界をリードする高度なアプリケーションソフトウェアとグローバルなアプリケーション専門知識は、製造プロセスの重要な段階でお客様に貢献しています。洗練された独自のアルゴリズムを搭載し、最新の機械学習（ML）、人工知能（AI）、ディープラーニング（DL）機能を統合しています。ノードソンのテスト＆インスペクションは、業界をリードする先進的なアプリケーションソフトウェアとグローバルなアプリケーションの専門知識により、製造プロセスの重要な段階でお客様に貢献しています。洗練された独自のアルゴリズムを搭載し、最新の機械学習（ML）、人工知能（AI）、ディープラーニング（DL）機能を統合しています。
ソフトウェア製品
ディープラーニングと & AI
検査・計測システムを柔軟かつ迅速に対応できる、&生産・製造用に設計されたAIソリューションは、従来のアプローチでは、不可能だった生産性の大幅な向上と検出機能を提供するアルゴリズムファミリーになります。EAGLEは、ユーザー自身が検査結果の精...
詳細はこちら
AOIAI2SPICyberCMM ソフトウェア
AOI、SPI、CMMシステム、新たに設計されたV5シリーズソフトウェアは、直感的なインターフェイスにより世界最高クラスの使い安さを体感、ユーザーとシステムのやり取り方法を完全に一新しました。同時に、このソフトウェアは非常に安定しおり、使用...
詳細はこちら
WaferSense®、ReticleSense®、In-Line Particle Sensor™ 向けの Nordson Spectrum ソフトウェア
Nordson Spectrum は、強力でありながら非常にシンプルなソフトウェアで、定量的に視覚フィードバックを提供、さまざまな用途に対してリアルタイムに測定と解析が直観的に行える GUI です。WaferSense Software...
詳細はこちら
Quadra Pro MXI システム向け Revalution ソフトウェア
Nordsonのまったく新しいRevalution™ソフトウェアは、モダンなGUI設計と最適化されたワークフローですべてをアンダーコントロール可能にします。Revalution™...
詳細はこちら
Bondtest System Stellar/4000Plus/Integra 向けの Paragon ソフトウェア
Paragon™ ソフトウェアの直感的で設定可能なインターフェイスにより、GR&R...
詳細はこちら
SpinSAM システム用の SpinOps
シンプルさを標準そしていることで、クラス最高のユーザビリティを実感、産業プロトコル対応（SEC/GEM）、高度な分析機能（AI/ML）、最大10枚の画像レベルをワンスキャン可能です。
詳細はこちら先進の試験、計測、検査技術
光学、X線、音響検査・計測、ボンドテストから半導体計測センサーまで、当社の主要カテゴリーをご覧ください。
ノードソン テスト & インスペクション テクノロジー
超音波顕微鏡システム(AMI)
Nordson T&I の超音波顕微鏡製品は超音波使用して非破壊で内部検査をするアコースティックマイクロイメージング（AMI)技術において業界で広く認知されています。
詳細はこちら
半導体計測センサー (WS)
半導体製造装置のセットアップやメンテナンスプロセスにおいて、最も効率的で効果的な測定装置が必要な場合は、チャンバーギャッピング、レベリング、ウェハハンドオフティーチング、振動、浮遊粒子、相対湿度、抵抗測定用ワイヤレス半導体測定装置のグローバ...
詳細はこちら
ボンドテスターシステム(BT)
Nordson T&I のボンドテスターは50年の経験に基づいており、特許取得済のシェア高さ精度により、市場で最も精度がよいテスト結果を得られる装置です。
詳細はこちら
マニュアルX線検査システム (MXI)
Quadra™シリーズX線検査は独自のトランスミッシブNT X線管テクノロジーにより高倍率を達成でき且つ面倒なフィラメント交換もありません。デバイスやコンポーネント内の微細な不具合を非破壊で検査可能です。
詳細はこちら
半導体検査＆計測システム (AXM)
ノードソンのウエハー検査および計測装置製品ラインは、ウエハーレベルの品質を評価およびモニタリングするためのトータルソリューションです。包括的なインラインおよびラボベースのX線検査および計測ソリューションをご提供いたします。
詳細はこちらアプリケーション別に見る
白 論文と顧客事例
業界のリーダーとして、Nordsonテスト & Inspectionは研究開発の最前線に立っています。 検査・計測機器の最新動向に関する事例研究やホワイトペーパーをご覧ください。
PCBA と半導体向けの汎用 AI 搭載のセグメンテーションモデル
プリント回路基板アセンブリ (PCBA) および半導体の自動外観検査 (AOI) システムにおける人工知能 (AI)...
詳細はこちらアップカミングイベント
弊社は、世界各地に拠点を持つグローバル企業です。近く開催されるイベントで、最寄りの Nordson Test & Inspection のチームをお尋ねください。お客様固有の用途に適した検査機器をお探しいたします。
Test & & Inspectionニュース
新製品の発売やプレスリリースなど、Nordson Test & Inspection の最新ニュースをお届けします。
Nordson Test & Inspection Wins 2025 Mexico Technology Award for Industry-Leading MXI Solution
Minneapolis, Minnesota — September 2025 – Nordson Test & Inspection is proud to announce that it has been awarded a...
続きを読む Nordson Test & Inspection Wins 2025 Mexico Technology Award for Industry-Leading MXI SolutionNordson Test & Inspection Expands Partnership with Distributor smartTec Nordic A/S
Nordson Test & Inspection Expands Partnership with Distributor smartTec Nordic A/S Minneapolis, Minnesota — July 10,...
続きを読む Nordson Test & Inspection Expands Partnership with Distributor smartTec Nordic A/SAward Winning Acquisition Mode Dynamic Planar CT
Nordson Test & Inspection's new Dynamic Planar CT™ was recently recognized for it's superior software package for...
続きを読む Award Winning Acquisition Mode Dynamic Planar CTNordson Test & Inspection Receives Top Honor with Prime Step-by-Step Innovation Award for SQ3000M2 System
Minneapolis, Minnesota — November 12, 2024 — Nordson Test & Inspection today announced that it has earned the Prime...
続きを読む Nordson Test & Inspection Receives Top Honor with Prime Step-by-Step Innovation Award for SQ3000M2 System
シンクタンク・ブログ最新情報
Nordson Test ＆& Inspectionソリューションについて詳しくご閲覧ください。業界や、新しい最先端の計測機器、検査装置について詳細を閲覧できます。
アワードウィニングSQ3000& MRS®テクノロジー
独自のMulti-Reflection Suppression®（MRS®）センサー技術に高精度
Nordsonテスト と検査にお問い合わせください
お客様のニーズに合った検査・計測システムおよびセンサーを見つけるお手伝いをいたします。