AMI SpinSAM Lite

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AMI SpinSAM Lite

オペレーター不要の検査および分析

SpinSAM Lite自動検査ツールは、ウェハベースのアセンブリ内の欠陥を正確に特定するための高い吐出量と優れた感度を提供します。

概要


成功事例としては、接合ウェハ、チップオンウェハ、積層ウェハ、MEMS、オーバーモールドウェハなどが挙げられる。 マッチングされたトランスデューサを使用することで、最大2枚のウェーハを同時に効率的にスピン走査することができ、生産環境においてこれまで達成された中で最も広い周波数範囲でウェーハを検査することが可能です。

 

ウォーターフォールトランスデューサーは非浸漬スキャンを提供するため、汚染や誤った表示のリスクを最小限に抑えます。

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均一で筋のない画像


連続的に水を流すことで空気の混入を防ぎ、筋のない均一な画像が得られるだけでなく、スキャナー上部に可動部品がないため、クリーンな動作を実現します。 最小限の水分曝露で、ウェハーをスキャンしてその場で乾燥させることで、処理工程を削減します。

ウェハー全体のスキャンは6分未満で完了します。


100μmのスキャン(ウェハーのロードから次のウェハーのロードまで)は6分未満で完了します。 ウェハーは完全に乾燥した状態でシステムに出入りする。 SpinSAMには、レシピの検証やパラメータのアップロード、校正要求のトリガー、履歴記録のためのバーコードリーダーも搭載されています。

Wafer Bay
Nordson SpinOps Software