AXI XSシリーズ
超高解像度インラインAXIプラットフォーム3D検査により、ノードソンのゼロ欠陥戦略に関する驚くべき詳細が明らかになった。
Dynamic Planar CTは、次世代の3D平面X線検査のための優れたソフトウェアであり、AXIを次のレベルへと引き上げます。
概要
XSシリーズは、インラインまたはアイランド型の自動化されたプラットフォームを提供し、幅広い自動X線検査(AXI)アプリケーションに対応します。 最大4つの高度な画像取得モードを備えたNo Translation Neededは、あらゆる用途と検査要件に対応できるセットアップとなっています。 半導体市場向けには、3つの専用システム構成が用意されています。
半導体 - 高解像度 ワイヤー ボンディング 検査。
Semiconductor Pro Strip - 超高解像度 ワイヤー ボンディング およびフリップチップ検査。
Semiconductor Pro Tray - JEDEC、スチール、特殊キャリアに対応した超高解像度 ワイヤー ボンディング およびフリップチップ検査。
取得モード
モジュール式のAXIシステムコンセプトは、1つのシステムで複数のデータ収集モードを使用できるという独自の機能を提供します。
具体的なアプリケーションの要求に応じて、No Translation Needed検査手法を選択または組み合わせることができます。
2D伝送
SFTスライスフィルタ技術
軸外斜め角度
動的平面CT
4つの機能を1つに統合 - 先進技術
先進的なハードウェア技術
- インライン設定用の最小限の設置スペースを備えた高速AXIシステム
- メンテナンス不要、密閉型マイクロフォーカスX線源
- 5軸プログラマブルモーションシステム
- 高解像度・高速デジタルフラットパネル検出器
- 線量に敏感な機器用の低線量放射線フィルター
ハイライト
- 自動バーコード読み取りおよび検査選択
- MESおよびSECS/GEMインターフェースを介した完全なトレーサビリティ
- IPC-CFX-2591、IPC-Hermes/9852、およびインダストリー4.0を読む
アプリケーション
ワイヤー ボンディング 検査
金または銅 ワイヤー 接着 (≥0.6 mil) 積層ダイを含む。 当社独自の高度なアルゴリズムライブラリには、スイープ、ループ高さ、短絡、凹み、たるみ、欠落、断線、浮き上がったワイヤ、リードフレームの変形などに対する特殊な欠陥検査機能が含まれています。
X線管 検査
当社の欠陥検出機能は、はんだ被覆率、マルチダイのずれ、回転、ボイド、異物混入、短絡の検査にも対応しています。
マイクロBGAおよびフリップチップバンプ検査
当社の高度なボールおよびバンプ欠陥アルゴリズムには、ブリッジ、異物、変形、傾斜、欠落したボールの検査に加え、積層ダイのマイクロボイド検査が含まれています。
Nordson MIPS AXIソフトウェアスイート
X線制御 - 調整 - 検証 - 画像ブラウザ
MIPSソフトウェア & 検査ツール
- 16ビット画像処理
- 自動グレースケールおよび幾何学的キャリブレーション
- 素早く簡単に検査を作成できるTeach&Go
- 独自の高度なアルゴリズムライブラリ
- 機械学習に基づく欠陥分類
- 多層スライスの抽出と解析
- ソフトウェアによる反り補正が可能
動的平面CT
次世代の3D平面検査- 高速取得 – 平面CTよりも2倍以上高速
- データ品質の向上 – 透明 レイヤー分離
- 優れた再構成 – 最新の3Dアルゴリズム
- UPHの上昇 – 劇的に増加 吐出量
- より広い視野角(FoV)– カバー範囲の拡大、より短いサイクルタイム &
- 放射線被ばく量の低減 – 被ばく時間の短縮
- 複雑さの軽減 & CoO – 特殊なクランプは不要
ノードソンサイト
AXI & AOI用の新しい統計的プロセス管理 (SPC) パッケージ
- 欠陥データ駆動型統計による分析 歩留まりモニタリング &
- グラフやチャートでCAD欠陥マッピングを視覚化する &
- 評価 – トレンド分析を用いて、KPIをリアルタイムまたは経時的に監視します。
- レポート出力 – 幅広いカスタマイズ可能なレポートオプション
- 警告通知 – 定義可能な基準によってトリガーされるアラーム & アラート
- あなたにとって重要なことに集中しましょう – カスタマイズ可能なダッシュボードレイアウト & コンテンツ
- ディープダイブ – MESで利用できる機能よりもはるかに詳細なドリルダウン機能
ノードソン・インテリジェンス
機械学習とAIを活用して誤報を削減する
- 効率向上 – 過剰生産を大幅に削減 & し、オペレーターの作業負荷を軽減
- より高い信頼性 – 統計的確率(定量的)に基づく欠陥分類
- 一貫性の向上 – オペレーター間のばらつき & と主観性の低減 &
- 継続的改善 –追加データによるAIモデルの経時的な改良
リソースとダウンロード
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パンフレット & カタログ