エレクトロニクス産業 - 半導体

ノードソン  テスト&検査  ライン製品は、半導体産業 の要求を満たすのに最適なさまざまなソリューションを提供します。 電子半導体やその他の高信頼性アプリケーションでは、信頼性を確保するためにコンポーネント ラボテスト の重要な検査が必要です。 当社の製品は、効果的な欠陥検出と歩留まり向上のためのリアルタイムのプロセス データを提供する非侵襲的な検査ソリューションと、プロセス障害を検査する効果的な方法を提供します。  

集積回路 生産工程 では、各ダイを検査して、表面に亀裂、欠け、焦げ跡などがないかどうかを確認する必要があります。これらの欠陥は、ダイの品質と性能に悪影響を及ぼす可能性があるためです。 これらの欠陥は変化しやすく、場所も異なるため、タイムリーに正確に見つけることは困難です。

ノードソン  テスト&検査  ソリューションは重要な検査機能を提供し、コンポーネント レベルでの障害から半導体電子部品の 非破壊試験 まで、幅広い検査タスクを可能にします。