WaferSense® Auto Vibration System™ (AVS)

WaferSense® Auto Vibration System™ (AVS)

3軸の加速度振動測定により振動起因の発塵を抑えることが可能で、パーティクルに関するメンテナンスの時間を削減しダウンタイムを減らします。

製品ビデオ WaferSense® Auto Vibration System™ (AVS)


概要


ワイヤレス測定による装置の校正を迅速化

ソフトウエアCyberSpectrumにて加速度振動データをワイヤレスに表示、ログします。™ 装置の校正とセットアップをリアルタイムにフィードバック調整し効果を確認できます。

 

ウエハライク形状なので装置のメンテナンスにかかる時間を大幅に削減します。

ウエハ搬送用のキャリア、FOUPの搬送時の振動を3軸加速度で可視化させて最適化を図ります。真空互換性のあるウエハ形状のセンサーなので、装置を大気解放させずに、チャンバ内のウエハズレ、傷、割れなどの原因調査に役立ちます。ウエハに対するダメージ起因を確定しパラメータをフィードバック調整して最適化することが可能となります。

 

客観的で再現性の高いデータを使って装置間の機差を減らします。

良好な装置から基準を設けて、悪い装置の劣化箇所を可視化し改善に役立てることが出来ます。予防メンテナンスとしてN数の測定データから交換すべきパーツの劣化状況を予測します。

 

装置の生産性と歩留まりを、加速度振動を低減させることにより実現します。

装置における生産性を最適化しつつ、また発塵性も抑えて装置の健康な状態を保ちます。

特長


ウェーハ形状 200 mm および 300 mm ウェーハサイズに対応しています。
ワイヤレス

測定データをパソコンにリアルタイムに送付します

高精度 x、y、z の 3 次元、+-2G の範囲、+-0.01G の分解能、周波数応答 0 ~ 200Hz、-3dB で加速を測定します。
使いやすいソフトウェア CyberSpectrum™:リアルタイムにグラフ表示数値データも表示して高精度に調整が可能統合された機能を見直し、見直しおよび解析のためにログファイルデータを再生します。