概要

マルチリフレクションサープレス®（MRS®）技術MX3000™は、光沢ある部品や反射する接合部で引き起こされる反射の細部を識別して除去する画期的なMRS技術により比類のない精度を実現
多重反射を効果的に抑制することは、高精度の測定にとって不可欠であり、MRSは非常に高い品質が要求される用途をはじめ、幅広い用途に理想的な技術ソリューションを実現

ベストの柔軟性を持つMX3000™ 3次元自動外観検査（AOI）システムは、高解像度で両面最終自動外観検査が可能で、生産性の倍増を実現
複数インラインモジュールグリッパーにより、ハンドリングタクトタイムを短縮、自動変換によりさまざまなメモリーモジュールフォームファクタ（RDIMM、SODIMM、VLPDIMM、UDIMM etc.）に対応可能

高速かつスマートなプログラミングを実現するために、超高速プログラミングキャリブレーション機能、自動チューニング機能やその他の強化機能により、サイバーオプティックの自動外観検査ソフトウェアアは大幅なセットアップ時間を短縮、プロセスを簡素化することで、トレーニングの労力を軽減、オペレーターの介入を最小限に抑えることを実現