딥 러닝 및 고급 AI

Nordson_TestInspection_ComboHorizontalLogo_white.png
딥 러닝 및 고급 AI
문의하기

딥 러닝은

전자제품 어셈블리의 자동화된 광학 점검에서 객체 감지를 위한 빠르고 정확한 솔루션을 제공함


Deep-Learning_Blog_2.jpeg

코너 충진 점검


메모리 제조업체는 IC 코너 아래에 충진을 사용하여 패키지를 원판에 본딩합니다. 충진 유무를 점검해서 너무 많거나 너무 적지 않은지 확인해야 합니다. 코너 충진의 길이를 측정하고 사양에 비교할 수 있는 솔루션이 필요했습니다. 이러한 애플리케이션의 그레이 레벨 특이성 부족으로 인해 블롭 분석 등과 같은 기존의 코너 충진 점검 방식은 어려움을 겪고 있습니다.

이러한 결론이 어떻게 도출되었는지 알고 싶으신가요? 해당 딥 러닝 알고리즘과 AOI 시스템(Nordson TEST & INSPECTION MRS 사용 SQ3000™)을 사용하여 전자제품 조립 응용 분야에서 코너 충진을 점검하는 것에 대해 설명했습니다. 그 결과 코너 충진의 유무를 점검하고 길이를 측정하는 데 탁월한 성능을 보였습니다. 이 시스템으로 수월하게 교육을 진행하고 표준 PC에서 손쉽게 실행할 수 있었습니다. 딥 러닝 알고리즘이 표준 시스템 소프트웨어에 통합되어 공장 엔지니어가 점검을 위해 로컬에서 실행할 수 있는 네트워크를 교육할 수 있게 되었습니다. 당사가 적극적으로 추진하는 SMT 및 반도체 애플리케이션의 딥 러닝 객체를 감지하기 위한 유용한 애플리케이션이 많이 있습니다.

 

딥 러닝 백서로 이동
Deep-Learning_Blog.jpeg

정확한 코너 충진 점검 SQ3000™




Nordson TEST & INSPECTION의 정교한 독점 알고리즘으로 현재와 미래의 당사 소프트웨어 애플리케이션을 구현합니다. 최신 머신 러닝(ML), 인공 지능(AI) 및 딥 러닝(DL) 기능을 통합합니다. 업계 내 최첨단 소프트웨어  애플리케이션을 생성합니다.

SQ3000은 반짝이는 구성 요소로 인한 반사를 섬세하게 식별하고 무시하는 혁신적인 다중 반사 억제(MRS) 기술로 비교할 수 없는 정확도를 자랑합니다. 정확한 측정을 위해서는 다중 반사를 효과적으로 억제하는 것이 크게 중요한 만큼, MRS는 품질 요건이 극도로 까다로운 응용 분야를 포함하여 다양한 응용 분야에 적합한 기술 솔루션입니다.


3D AOI, SPI & CMM용 SQ3000™ 다기능으로 이동

유연하고 빠른 변화를 위해 생산용으로 설계된 AI 솔루션

Network Based Algorithm

thumbnail_EAGLE_600x300.jpg

Nordson Intelligence - Accelerate Your Results

기존 접근 방식으로는 불가능했던 상당한 처리량 개선과 탐지 기능을 제공하는 알고리즘 제품군입니다. 노드슨 인텔리전스는 사용자에게 검사 결과를 개선하고 다양한 유형의 애플리케이션에 맞는 솔루션을 신속하게 배포할 수 있는 자율성을 제공합니다.

 

Nordson 테스트 및 검사 문의

저희는 고객님의 요구사항을 충족하는 검사 및 계측 시스템과 센서를 찾도록 도와드리겠습니다.