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In-line Particle Sensor™(IPS™)
실시간 장비 진단을 위한 IPS 및 신규 CyberSpectrum™ 소프트웨어를 사용하여 입자 데이터를 수집하고 표시하십시오. CyberSpectrum으로 과거 데이터와 현재 데이터, 그리고 한 도구와 다른 도구를 더욱 쉽고 빠르게 비교하십시오. 세척, 조정 및 수리의 효과를 실시간으로 확인하십시오. 오염원을 신속하게 찾아 시간을 절약하십시오.
개요
실시간 상시 모니터링으로 장비 기준 충족 속도를 높이십시오.
실시간 장비 진단을 위한 IPS 및 신규 CyberSpectrum™ 소프트웨어를 사용하여 입자 데이터를 수집하고 표시하십시오. CyberSpectrum으로 과거 데이터와 현재 데이터, 그리고 한 도구와 다른 도구를 더욱 쉽고 빠르게 비교하십시오. 세척, 조정 및 수리의 효과를 실시간으로 확인하십시오. 오염원을 신속하게 찾아 시간을 절약하십시오.
인라인 입자 센싱으로 장비 정비 주기를 단축하십시오.
입자를 실시간으로 감지하고 측정과 도구 이벤트를 상호 연계하십시오. 도구 및 공정을 위한 기준선 성능을 개발할 수 있습니다. 도구에서 입자 생성을 유발하는 부분을 선택적으로 정비하여 정비 주기를 간소화하십시오.
객관적이고 재현 가능한 데이터로 장비 비용을 낮추십시오.
장비 고장이 임박하면 미리 경고가 제공되어 예방 정비 계획을 최적화할 수 있습니다.
In-line Particle Sensor™(IPS™) 제품 비디오
실시간 상시 모니터링
WaferSense® Airborne Particle Sensor™ 기술에 기반한 IPS는 고출력 블루 레이저를 활용하여 공정 민감 응용 분야에서 가스 및 진공 라인 위치에 있는 최소 0.1µm 크기의 입자를 빠르게 모니터링하고, 식별하고, 관련 문제를 해결합니다.
특징
| 기계식 인터페이스 | ISO-63 플랜지(표준 구성) |
| 진공 무결성 | 누설량 10-6atm-l/초 미만 |
| 높은 정확도 | 0.1μm 이상의 입자 측정 시간당 계수 오류 5회 미만 |
| 레이저 | 레이저 클래스 1 인증 |