MXI 루비 XL

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RubyXL XD7800NT on blue background
RubyXL sample Xray
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MXI 루비 XL

  • 대형 기판 및 반도체 패널 레벨 패키징
  • 검사 영역 840 x 615mm
  • 옵션는 고해상도 Onyx 검출기를 통해 1.0 µm까지의 특징 해상도를 제공합니다. (JIMA)

개요


RubyXL은 매우 큰 샘플 크기와 고중량 어셈블리를 지원하므로 대형 인쇄 회로 기판 어셈블리 검사에 이상적입니다. Revalution 소프트웨어 패키지로 더욱 향상된 사용 편의성, 뛰어난 이미지 품질 및 고급 3D 이미징 성능을 제공합니다.

 

옵션 사양인 고해상도 Onyx 검출기를 사용하면 RubyXL은 유리 및 유기 패널 레벨 패키징을 포함한 대형 반도체 응용 분야로 기능을 확장하여 1µm까지의 검사 해상도를 달성할 수 있습니다.

 

 

CERA 3D

사이즈


  • 최대 검사 영역: 33" x 24.2" (840 x 615mm)
  • 70도 경사각에서 본 모습: 30" x 24" (762 x 610 mm)
  • 관심 지점을 중심으로 360° 완전 회전
  • 등중심 조작기 구성은 시야 내에 특징을 유지합니다.

장점


  • X선 발생원: NT 100 무보수형 - 밀폐형 투과형
  • Aspire 또는 Onyx 탐지기(선택 사양)
  • X-Plane Pro를 이용한 3D 이미지 촬영
  • AXIS(능동형 X선 영상 안정화)를 이용한 진동 방지
  • 소프트웨어: AI 기능 업그레이드 옵션이 포함된 리발루션
RubyXL sample Xray
X-Plane Pro 15

크리스탈 명확한 X선 검사


노이즈를 줄이고 해상도를 높여주는 옵션 사양인 Onyx X선 검출기를 사용하면 검사 선명도를 향상시킬 수 있습니다. Revalution 소프트웨어 패키지에는 인상적인 3D 이미지 처리를 위한 X-Plane, 결함 시각화를 위한 HDRlive 이미지 향상 기능, 빠르고 정확한 결함 감지를 위한 N-Intelligence AI 검사 솔루션 등 다양한 업그레이드 옵션이 포함되어 있습니다.

자료 및 다운로드


  • 브로셔 & 카탈로그