우리가 제공하는 산업 - 전 자 Semiconductor
더 노드슨 테스트& 점검 라인 제품은 반도체 산업의 요구 사항을 충족하는 데 이상적으로 적합한 다양한 솔루션을 제공합니다. 전자 반도체 및 기타 고신뢰성 애플리케이션은 신뢰성을 보장하기 위해 구성요소 평가에 대한 중요한 검사가 필요합니다. 당사 제품은 효과적인 결함 감지 및 수율 개선을 위한 실시간 프로세스 데이터와 프로세스 결함을 검사하는 효과적인 방법을 제공하는 비침습적 검사 솔루션을 제공합니다.
집적 회로 제조 공정에서 각 다이는 표면에 균열, 칩, 탄 자국 등이 있는지 검사해야 합니다. 이러한 결함은 다이의 품질과 성능에 부정적인 영향을 미칠 수 있기 때문입니다. 이러한 결함은 다양하고 위치가 다르기 때문에 적시에 정확하게 찾기가 어렵습니다.
노드슨 테스트& 점검 솔루션은 부품 수준의 결함에서부터 반도체 전자 부품의 비파괴 평가에 이르기까지 광범위한 검사 작업을 허용하는 필수 검사 기능을 제공합니다.
