AXI XS 시리즈

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AXI XS 시리즈

초고해상도 인라인 AXI 플랫폼 3D 검사를 통해 Nordson의 무결점 전략을 위한 놀라운 디테일을 확인할 수 있습니다.
Dynamic Planar CT는 차세대 3D 평면 X선 검사를 위한 탁월한 소프트웨어로, AXI를 한 차원 높은 수준으로 끌어올립니다.

 

개요


XS 시리즈는 광범위한 자동 X선 검사(AXI) 응용 분야를 포괄하는 인라인 또는 독립형 자동 X선 시스템을 위한 플랫폼을 제공합니다. 최대 4가지 고급 이미지 획득 모드를 갖춘 No Translation Needed는 모든 응용 분야 및 검사 요구 사항에 맞춰 설정할 수 있습니다. 반도체 시장을 위한 세 가지 전용 시스템 구성이 있습니다.

반도체 - 고해상도 와이어 본드 검사. 
반도체 프로 스트립 - 초고해상도 와이어 본딩 및 플립칩 검사.
반도체 프로 트레이 - JEDEC, 강철 및 특수 캐리어에 대한 핸들링을 지원하는 초고해상도 와이어 본딩 및 플립칩 검사 장비.

 

획득 모드


모듈형 AXI 시스템 개념은 하나의 시스템에서 여러 가지 데이터 수집 모드를 사용할 수 있는 고유한 기능을 제공합니다.
특정 애플리케이션 요청에 따라 No Translation Needed 검사 기술을 선택하거나 조합할 수 있습니다.

2D 전송


이동 가능한 시료 트레이와 고정된 검출기 위치를 이용한 직교 2차원 이미징.

SFT 슬라이스 필터 기법


특허받은 검사 기술로, 분석을 위한 황금 샘플 비교 및 ​​배경 제거 기능을 제공합니다.

축외 경사각


검출기 이동을 통한 오프축 검사(≤30°)로 고성능 경사각 이미징이 가능합니다.

동적 평면 CT


차세대 고품질 3D 검사 기술은 고속 검출기 이동(3초/시야각)을 활용합니다.

4가지 기능을 하나로 - 첨단 기술


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첨단 하드웨어 기술


  • 인라인 설치에 적합한 최소 설치 공간을 갖춘 고속 AXI 시스템
  • 유지보수가 필요 없는 밀폐형 마이크로포커스 X선 소스
  • 5축 프로그래밍 가능 모션 시스템
  • 고해상도, 고속 디지털 평판형 검출기
  • 방사선량에 민감한 장치용 저선량 방사선 필터

하이라이트


  • 자동 바코드 판독 및 검사 선택 
  • MES 및 SECS/GEM 인터페이스를 통한 완벽한 추적성 제공 
  • IPC-CFX-2591, IPC-Hermes/9852 및 Industry 4.0 읽기  
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응용 프로그램


와이어 본드 검사

적층 다이를 포함한 금 또는 구리 와이어 본딩(≥0.6mil). 당사의 고급 독자 알고리즘 라이브러리에는 스윕, 루프 높이, 단락, 함몰, 처짐, 누락, 단선, 들뜬 전선 및 리드 프레임 변형과 같은 전선 결함 검사 기능이 포함되어 있습니다.

납땜 접합부 검사

당사의 결함 감지 기능은 납땜 범위 검사, 다중 다이 시프트, 회전, 보이드 발생, 이물질 검사 및 단락 검사까지 포함합니다.

마이크로 BGA 및 플립칩 범프 검사

당사의 정교한 볼 및 범프 결함 알고리즘은 브리지, 이물질, 변형, 기울어짐 및 누락된 볼에 대한 검사는 물론, 적층 다이의 미세 공극 검사까지 포함합니다.

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Nordson MIPS AXI 소프트웨어 제품군

X선 제어 - 조정 - 검증 - 이미지 브라우저


차세대 동적 PCT

MIPS 소프트웨어 & 검사 도구

  • 16비트 이미지 처리
  • 자동 회색조 및 기하학적 보정
  • 빠르고 간편한 검사 생성을 위한 교육&Go
  • 독점 고급 알고리즘 라이브러리
  • 머신러닝 기반 결함 분류
  • 다층 슬라이스 추출 및 분석
  • 소프트웨어 기반 뒤틀림 보정 기능 사용 가능

     

동적 평면 CT

차세대 3D 평면 검사
  • 가속 획득  – 평면 CT보다 2배 이상 빠름
  • 향상된 데이터 품질 – 명확한 레이어 분리
  • 뛰어난 재구성 - 완전히 새로운 3D 알고리즘
  • 더 큰 UPH – 처리량가 극적으로 증가했습니다.
  • 더 넓은 시야(FoV) – 향상된 적용 범위, 더 짧은 주기 시간   &
  • 방사선량 감소 – 노출 시간 단축
  • 복잡성 감소 & CoO – 특수 클램핑이 필요하지 않음

 

노드슨 사이트

AXI & AOI용 새로운 통계적 공정 관리(SPC) 패키지

  • 결함 데이터 기반 통계를 활용한 분석 수율 모니터링 &  
  • 그래프와 차트를 사용하여 CAD 결함 매핑을 시각화하세요.  &
  • 평가 – KPI를 실시간 또는 시간 경과에 따라 추세 분석을 통해 모니터링합니다.
  • 보고서 출력 – 다양한 맞춤형 보고서 옵션
  • 경고 알림 – 정의 가능한 기준에 따라 트리거되는 알람 & 알림 
  • 나에게 중요한 것에 집중하세요 – 사용자 정의 가능한 대시보드 레이아웃 & 콘텐츠
  • 심층 분석 – MES를 통해 제공되는 기능보다 훨씬 더 자세한 드릴다운 기능을 제공합니다.

 

 

노드슨 인텔리전스

머신러닝과 AI를 활용하여 오경보를 줄이세요

 

  • 효율성 향상 – 과잉 작업을 크게 줄여 & 운영자 작업 부하를 감소시킵니다.
  • 더욱 높아진 신뢰도  – 통계적 확률(정량적)에 기반한 결함 분류
  • 일관성 향상 – 운영자 간 변동성 감소 & 주관성 감소 &
  • 지속적인 개선 – 추가 데이터를 활용한 시간이 지남에 따른 AI 모델 개선
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자료 및 다운로드