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Ispezione con microscopia acustica
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Automated Optical Inspection & Metrology
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Ispezione automatizzata a raggi X
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Metrologia automatizzata a raggi X
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Test del legame
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Conteggio di componenti a raggi X
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Ispezione manuale con raggi X
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WaferSense e ReticleSense
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Tecnologie a raggi X
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Nordson Intelligence AI
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Nordson MIPS - AXI SoftwareAXI Dynamic Planar CT
Advanced acquisition mode for automated x-ray inspection software -
Nordson Paragon - BT Software
N-Paragon Lite
dedicated to gold standard Stellar 4000 Bondtester -
Nordson Revalution - MXI Software
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Nordson AOI CMM SPI
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Nordson Sight - SPC SoftwareN-Sight
SMT Inspection and complete SPC Software Solution for AOI inspection and metrology systems -
Nordson Spectrum - WS & RS SoftwareN-Spectrum WaferSense & ReticleSense Software Solutions
dedicated for new In-Line Particle Sensor and all WaferSense and ReticleSense devices
Accelerate Your Results - Nordson Intelligence, designed for production, for flexible, rapid changes
A family of algorithms delivering significant throughput improvements and detection capabilities not possible through traditional approaches. Nordson Intelligence provides users the autonomy to enhance their inspection results, and quickly deploy solutions for different types of applications.
Metrologia e ispezione avanzate
Precisione elevata. Risoluzione elevata. Velocità elevata.
Nordson Test & Inspection produce sistemi e sensori di metrologia e ispezione di livello mondiale.& Le nostre apparecchiature di metrologia di ispezione soddisfano i più elevati standard per l'assemblaggio elettronico e le applicazioni nel settore dei semiconduttori.I sistemi acustici, ottici, per test di adesione, componenti per raggi X, raggi X manuali e raggi X automatici consentono di identificare anche i difetti più piccoli ad alta risoluzione e di acquisire misurazioni critiche. I sensori wireless per semiconduttori possono migliorare significativamente la configurazione e la manutenzione degli strumenti per semiconduttori.
Progettiamo, sviluppiamo &e produciamo apparecchiature di ispezione &e metrologia innovative per un'ampia &gamma di settori, &tra cui AI, Server e 5G, Consumer, &Automotive, Power and Energy, Sensori e LED, Aerospaziale e Difesa e Medicale.
I nostri segmenti principali includono SMT avanzato, packaging avanzato, semiconduttori front-end, semiconduttori mid-end e semiconduttori back-end.
Le giuste apparecchiature di ispezione e metrologia possono migliorare la qualità dei prodotti&. Se stai cercando di risparmiare tempo e denaro e di migliorare i rendimenti, i processi e la produttività dei semiconduttori o dell'elettronica che produci, le nostre apparecchiature di ispezione possono aiutarti a garantire una qualità sempre eccezionale.
Apparecchiature per l'ispezione e la metrologia
Le nostre apparecchiature per l'ispezione e la metrologia sono ampiamente riconosciute in tutto il mondo. Di seguito sono riportate alcune delle nostre soluzioni non distruttive di livello mondiale.
AMI SpinSAM - Scansione - Acustica - Microscopia
Livello di produzione leader del settore sull'ispezione di quattro wafer da 300 mm Ingombro/UPH di altissimo livello...
Per saperne di piùSQ7000+TM multifunzione per AOI 3D, SPI e CMM
Il sistema multifunzione SQ7000+ con tecnologia dei sensori Multi-Reflection Suppression® (MRS®) offre un'ispezione e...
Per saperne di piùSerie AXI XS
L'ispezione 3D ad altissima risoluzione della piattaforma AXI in linea rivela dettagli incredibili, fondamentali per la...
Per saperne di piùMXI QUADRA™ 7 Pro
Quadra™ Pro series crea immagini imbattibili ad altissima risoluzione. Il tubo radiogeno NT4 a doppia modalità ad alte...
Per saperne di piùMXI X-Plane
La tecnologia X-Plane offre funzionalità di tomografia computerizzata ad alta risoluzione e ad alto ingrandimento in...
Per saperne di piùSQ3000M2
Prestazioni superiori ideali per applicazioni wirebond. L'ispezione ottica automatizzata (AOI) SQ3000M2 garantisce la...
Per saperne di piùWaferSense® Auto Teaching System™ (ATS2)
Acquisisci dati offset tridimensionali (x, y e z) per comunicare rapidamente le posizioni di transfer del wafer.
Per saperne di piùAMI Gen7 C-SAM®
La nuova generazione di tecnologia C-SAM. Il microscopio acustico C-SAM più sofisticato e completo per analisi di...
Per saperne di piùWaferSense® Auto Gapping System2™ (AGS2)
Migliora uniformità e resa con WaferSense AGS2 wireless per configurazioni accurate e ripetibili.
Per saperne di piùContatore di componenti a raggi X assicurato - Conta su di noi
Il materiale giusto nella giusta quantità al momento giusto nel posto giusto. Assicurati che la tua produzione funzioni...
Per saperne di più4000 Plus Bondtester
Il bondtester 4000Plus stabilisce lo standard del settore nei test di adesione, offrendo un'accuratezza e una...
Per saperne di piùValvole dosatrici serie 003 | Nordson
La valvola di misurazione del volume della serie 003 è una valvola misuratrice di volume positivo che eroga...
Per saperne di piùDare forma al nostro software oggi e domani
Per sostenere le nostre apparecchiature di ispezione e metrologia..
Il software applicativo avanzato e leader del settore di Nordson Test & Inspection e la sua esperienza applicativa globale sono al servizio dei clienti nelle fasi chiave del processo produttivo. Incorporando sofisticati algoritmi proprietari e integrando le più recenti capacità di Machine Learning (ML), Artificial Intelligence (AI) e Deep Learning (DL). Il software applicativo avanzato e leader del settore e l'esperienza applicativa globale di Nordson Test & Inspection sono al servizio dei clienti nelle fasi chiave del processo produttivo. Incorpora sofisticati algoritmi proprietari e integra le più recenti capacità di Machine Learning (ML), Artificial Intelligence (AI) e Deep Learning (DL).
Prodotti software
Deep Learning & IA
Soluzioni IA progettate per la produzione, per cambiamenti flessibili e rapidi per i sistemi di ispezione e metrologia...
Per saperne di piùAOI. AI2. SPI. Software CyberCMM
Sistemi AOI, SPI e CMM Il nuovo software della serie V5 offre un'esperienza d'uso di livello mondiale grazie alla sua...
Per saperne di piùSoftware Nordson Spectrum per WaferSense®; ReticleSense® In-Line Particle Sensor™
Nordson Spectrum è un software potente ma estremamente semplice con un'interfaccia intuitiva che offre feedback...
Per saperne di piùSoftware Revalution per sistemi Quadra Pro MXI
Il nuovissimo software Revalution™ di Nordson ha tutto sotto controllo grazie alla moderna interfaccia grafica eal...
Per saperne di piùSoftware Paragon per sistema Bondtest Stellar/4000Plus/Integra
L'interfaccia altamente intuitiva e configurabile del software Paragon™ offre un accesso rapido e semplice a...
Per saperne di piùSpinOps per sistemi SpinSAM
Esperienza utente eccellente con semplicità di utilizzo come standard, compatibilità con protocolli industriali...
Per saperne di piùAssure Shell per sistemi Assure
Interfaccia semplice e intuitiva che utilizza algoritmi avanzati per identificare nuovi componenti e non si basa su...
Per saperne di piùSuite software MIPS per sistemi a raggi X
La suite di software MIPS offre una soluzione completa e globale per un'ampia gamma di applicazioni a raggi X.
Per saperne di piùNordson Test & Inspection Technologies
Acustico
Nordson Test & Inspection Acoustic è l'autorità più affidabile sull'applicazione della microscopia acustica, nota anche...
Per saperne di piùOttico
L'avanzata tecnologia di imaging 3D offre un'ispezione PCB ad alta velocità con un'eccezionale copertura dei difetti.
Per saperne di piùSensori metrologici per semiconduttori
Quando avete bisogno dei dispositivi di misura più efficienti ed efficaci per i processi di impostazione e manutenzione...
Per saperne di piùTest di bond
Nordson Test & Inspection Test Products si basa su 50 anni di esperienza. La nostra precisione brevettata dell'altezza...
Per saperne di piùRadiografia manuale
L'ispezione a raggi-X della serie Quadra™ va oltre l'imaging ottico. La tecnologia proprietaria dei tubi a raggi X...
Per saperne di piùMetrologia automatica a raggi X
La linea di prodotti Nordson per l'ispezione e la metrologia dei wafer offre una gamma completa di soluzioni di...
Per saperne di piùRadiografia autonoma
Sistemi di ispezione a raggi-X in linea automatica ad alta velocità (AXI) e sistemi di ispezione a raggi-X...
Per saperne di piùConteggio dei componenti a raggi X
Contatori di componenti a raggi X ad alta velocità basati sulla tecnologia a raggi X - La serie Assure™ - X-ray...
Per saperne di piùTecnologie a raggi X
I rilevatori, le sorgenti e le tecnologie OEM personalizzate di Nordson sono progettati da zero per supportare la...
Per saperne di piùSettori che serviamo
Le nostre tecnologie applicative
Bianco Articoli e casi di studio dei clienti
In qualità di leader del settore, Nordson Test & Inspection è all'avanguardia nella ricerca e nello sviluppo. Consulta studi di caso e white paper sugli ultimi sviluppi nel campo delle apparecchiature di ispezione e metrologia.
Un modello di segmentazione universale basato sull'intelligenza artificiale per PCBA e semiconduttori
L'integrazione dell'intelligenza artificiale (IA) nei sistemi di ispezione ottica automatizzata (AOI) per assemblaggi...
Per saperne di piùEstensione della tecnologia dei sensori MRS 3D per applicazioni di misurazione e ispezione complesse
C'è una crescente necessità di capacità di ispezione e misurazione 3D altamente accurate per applicazioni nei mercati...
Per saperne di piùProssimi eventi
Siamo un'azienda globale e abbiamo uffici vicino a te. Incontra il team Nordson Test & Inspection locale in occasione di uno dei nostri prossimi eventi: ti aiuteremo a trovare l'apparecchiatura di ispezione più adatta alla tua applicazione specifica.
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