4000 Plus Bondtester

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4000 Plus Bondtester

Il bondtester 4000Plus stabilisce lo standard del settore nei test di adesione, offrendo un'accuratezza e una ripetibilità dei dati ineguagliabili, fornendo una completa fiducia nei risultati.

Panoramica


Il Nordson DAGE 4000Plus di seconda generazione è il bondtester più avanzato sul mercato.  Rappresentando il migliore della categoria, il bondtester 4000Plus stabilisce lo standard del settore nei test di adesione offrendo accuratezza e ripetibilità dei dati insuperabili, fornendo completa fiducia nei risultati.

Il bondtester multiuso 4000Plus esegue test di taglio fino a 200 kg, test aperti fino a 100 kg e test di spinta fino a 50 kg, coprendo tutte le applicazioni Test, inclusi i nuovi test di trazione a caldo e micromateriali. Questo sistema è ideale anche per applicazioni come test di trazione e taglio di interconnessioni wafer, lead frame, microcircuiti ibridi o pacchetti elettronici Industria automobilistica.

Specifiche tecniche a colpo d'occhio


Stadi XY
Tipo di superficie di lavoro Applicazione raccomandata della cesoia Viaggio XY
Max. Forza Y
Alta velocità Taglio di zona fino a 25 kg @ 50 mm/s o 50 kg @ 25 mm/s 160 x 160mm 50 kg
Forza elevata Cesoia fino a 200 kg @ 0,7 mm/s 160 x 160mm 200 kg
Alta precisione Cesoia a sfere a passo ultra fine fino a 10 kg @ 0,7 mm/s 210 x 300mm 10 kg
Asse Z e busta di lavoro
Mainframe 4000Plus                            Corsa dell'asse Z di 75 mm; Busta di lavoro da 120 mm
Specifiche tecniche
ingombro                                                                                                                    L = 630 mm  (compresi i joystick sinistro e destro), D = 600 mm, H = 830 mm
Il peso 90 kg compreso il tavolo XY
Fornitura di Alimentazione 90- 264VAC monofase
Fornitura pneumatica Tubo in plastica minimo 4 bar, diametro esterno 6 mm. Si noti che alcune applicazioni specializzate potrebbero richiedere una maggiore pressione, aria secca e pulita
Alimentazione sottovuoto Minimo 500 mm Hg (67kPa), tubo in plastica con diametro esterno di 6 mm
Precisione
Precisione totale del sistema utilizzando cartucce di carico +/- 0,1% di deviazione del fondo scala per l'intervallo di carico selezionato (vedi cella di carico dettagliata Specifiche tecniche)
Precisione di arretramento della cartuccia di carico (palla e dado) a taglio (escl. S25)                          +/- 1μm su 2 mm di corsa nell'asse Z
S25 passo indietro di precisione +/- 0,25μm su 2 mm di corsa nell'asse Z

 Ampia gamma di soluzioni ottiche


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Altamente versatile


Il mainframe standard 4000Plus ha un campo di lavoro verticale di 120 mm che soddisferà la maggior parte delle applicazioni. Gli stadi XY sono disponibili da 160 mm x 160 mm fino a 300 mm x 210 mm, comprese le opzioni di alta precisione, velocità più elevata e taglio a zona. In più c'è anche il Opzionale di una fase di lavoro riscaldata fino a 400 gradi C a 200kg max, completa di controllo temperatura regolabile.

Cambia applicazione in pochi secondi


Le cartucce multifunzione (MFC) uniche nel settore sono progettate con routine Da utilizzare con automatic Test sul bondtester 4000Plus che consentono modelli Test multi-superficie per pacchetti ibridi complessi e un cambio di applicazione ultra rapido.
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Ampia capacità di test


Le applicazioni attuali ed emergenti sono completamente soddisfatte con cartucce di carico combinate con dispositivi standard e specializzati per eseguire prove di taglio fino a 500 kg, prove aperte fino a 100 kg e prove di spinta fino a 50 kg.

Applicazioni in primo piano


Tirare il nastro – Con un'ampia gamma di carichi  strumenti inclusi ganci e pinzette, tutto  dimensioni e tipi di nastri possono essere testati.

Urto caldo/tiro perno – Una nuova cartuccia di caricamento  rende uniforme questo innovativo Test  meglio, soprattutto per la valutazione del PCB  Substrato materiali e saldatura a basso profilo  dossi.

Tirare prima la pallina di collegamento dei fili di rame e tirarla fuori  borchie, dossi e pilastri - Per la prima volta  le ganasce di trazione personalizzate consentono test di trazione su questi  interconnessioni importanti.

Taglio dello strato di passivazione - Una combinazione di  software e uno speciale strumento di caricamento fornisce a  soluzione per cesoia a sfera dove c'è l'accesso  limitato dallo strato di passivazione.

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Maggiore efficienza


Il 4000Plus offre un'ampia gamma di soluzioni ottiche per test di adesione e test di micromateriali, con sistemi di imaging per l'analisi della modalità di guasto, l'allineamento e la registrazione dal vivo dei test:

Fotocamera per l'acquisizione di immagini


Il sistema di acquisizione delle immagini per l'analisi avanzata è rapido da configurare e nelle immediate vicinanze della testa Test per un test più rapido.
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Fotocamera ad alta velocità


Le nuove telecamere ad alta velocità forniscono immagini ad alta risoluzione e aumentano la produttività. È compatibile con tutti i sistemi di imaging dei bond tester Nordson.
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Telecamera Trinoculare


La fotocamera trinoculare può essere collegata a qualsiasi microscopio zoom stereo con attacco a C. Con un microscopio appropriato, il campo visivo può essere regolato dall'ampio al primo piano ed è ideale per il posizionamento macro
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Domande frequenti: Affidabilità dei contatti nei test di semiconduttori ad alta densità


  • Q: Perché l'affidabilità dei contatti è così critica nei moderni dispositivi a semiconduttore?

    Con la miniaturizzazione e la crescente complessità dei dispositivi a semiconduttore, l'affidabilità delle interconnessioni microscopiche diventa essenziale per garantire prestazioni costanti, sicurezza e durata nel tempo. Anche difetti di lieve entità possono causare guasti significativi nel corso del ciclo di vita di un prodotto.

  • Q: Cosa sono le interconnessioni nei dispositivi a semiconduttore?

    Le interconnessioni sono minuscoli percorsi conduttivi che consentono il flusso di segnali, Alimentazione e dati tra i componenti. Costituiscono la spina dorsale di ogni dispositivo a semiconduttore e sono cruciali per il funzionamento complessivo.

  • Q: In che modo la miniaturizzazione influisce sull'affidabilità delle interconnessioni?

    La miniaturizzazione riduce le dimensioni delle interconnessioni a pochi micron, aumentandone al contempo la densità. Ciò li rende più suscettibili alla variabilità dei materiali e dei processi produttivi, aumentando il rischio di difetti.

  • Q: Che cos'è il test di adesione?

    Il test di adesione è un metodo utilizzato per misurare la resistenza meccanica delle interconnessioni mediante l'applicazione di una forza controllata. Fornisce informazioni quantitative sull'integrità dei legami e aiuta a identificare i collegamenti deboli nelle prime fasi della produzione.

  • Q: In che modo i test di adesione si differenziano dai metodi di ispezione tradizionali?

    Mentre le tecniche di ispezione rilevano difetti visibili o strutturali, i test di adesione valutano la reale resistenza delle interconnessioni, offrendo una visione più approfondita dell'affidabilità a lungo termine.

  • Q: Perché il test di adesione è considerato un punto di controllo critico?

    I test di adesione verificano direttamente la resistenza delle connessioni, aiutando i produttori a prevenire guasti sul campo, migliorare la resa dei prodotti e garantire che i dispositivi soddisfino i requisiti di affidabilità per l'intera durata del loro ciclo di vita.

  • Q: Quali sfide introducono le tecnologie di imballaggio avanzate?

    Metodi di confezionamento avanzati come FOWLP e impilamento 3D introducono complesse interazioni tra i materiali e variazioni di stress, rendendo più difficile mantenere una portata costante e richiedendo metodi di test più precisi.

  • Q: Perché i sistemi automatizzati di collaudo dell'adesione sono importanti?

    L'automazione migliora la precisione e la ripetibilità delle misurazioni, riducendo al contempo l'errore umano. Consente inoltre una migliore tracciabilità e un'ottimizzazione dei processi basata sui dati.

  • Q: In che modo l'intelligenza artificiale sta trasformando i test sui titoli obbligazionari?

    L'intelligenza artificiale di Nordson Intelligence migliora i test di adesione consentendo una classificazione dei guasti più rapida e coerente, identificando modelli nei dati e contribuendo a rilevare i rischi di processo in una fase più precoce del ciclo di produzione.

  • Q: Qual ​​è il futuro dei test di adesione nella produzione di semiconduttori?

    Il collaudo delle cedole si sta evolvendo in un processo intelligente e basato sui dati. I sistemi futuri combineranno misurazioni di precisione, campionamento adattivo, automazione e analisi avanzate per supportare le tecnologie dei semiconduttori di prossima generazione.