AMI SpinSAM - Scansione - Acustica - Microscopia
- Livello di produzione leader del settore sull'ispezione di quattro wafer da 300 mm
- Ingombro/UPH di altissimo livello
- Acquisizione dei difetti e qualità dell'immagine leader del settore
- Design modulare per facilitare la possibilità di effettuare operazioni di manutenzione
- Ispezione e analisi completamente automatizzate con comunicazione con l'impianto
Cosa accadrebbe se...
... ci fosse un prodotto rivoluzionario in grado di comprendere l'importanza delle Unità per ora (UPH).
Caratterizzato da un ingombro ridotto che ti permette di risparmiare spazio costoso nella camera bianca con un livello di produzione leader del settore per l'ispezione e la velocità dei wafer. Una soluzione in grado di scansionare 4 wafer contemporaneamente con un innovativo metodo con scansione rotante. Presenta una tecnologia Transducer proprietaria e crea un'immagine completa del wafer senza cuciture. Facile da gestire: la soluzione definitiva per l'individuazione accurata dei difetti per un'ampia varietà di applicazioni con wafer.
Il futuro delle ispezioni dei wafer è già arrivato
Una soluzione rivoluzionaria
Nel frenetico mondo della produzione di semiconduttori, precisione ed efficienza sono qualità imprescindibili.
Presentazione di SpinSAM: la più alta vetta della tecnologia di ispezione automatizzata ideata per soddisfare i
rigorosi requisiti del settore. SpinSAM è una soluzione rivoluzionaria con un elevato livello di produzione e una
sensibilità ineguagliabile. Il sistema presenta un innovativo metodo con scansione rotante,
progettato meticolosamente per massimizzare le Unità per ora (UHP),
il che significa ispezionare 41 wafer all'ora senza compromettere la precisione.
Dai wafer collegati ai MEMS fino a tutto il resto.
SpinSAM gestisce ogni situazione con facilità.
Cos'è SpinSAM?
Spin Scansione Acustica Microscopia
Lo strumento di ispezione automatizzato di SpinSAM garantisce un elevato livello di produzione e una migliore sensibilità per l'individuazione precisa dei difetti negli assemblaggi di wafer. Le applicazioni ideali includono wafer collegati, Chip-on-Wafer, stack di wafer, MEMS, wafer over-molded e molto altro. La rotazione efficiente è in grado di scansionare 4 wafer contemporaneamente con 4 trasduttori abbinati, i wafer possono essere ispezionati sull'intervallo di frequenza più ampio mai raggiunto in un ambiente di produzione. I trasduttori a cascata offrono una scansione non immersiva che riduce al minimo i rischi di contaminazione e le indicazioni di falsi collegamenti.
Ogni secondo conta
- Con SpinSAM, i tempi di fermo appartengono al passato
- Garantisci operazioni continue e prestazioni sempre al massimo
- Il design modulare di SpinSAM permette un Mean Time to Repair (MTTR) efficiente
- Si possono gestire velocemente tutte le riparazioni necessarie, senza interrompere a lungo la tua linea di produzione
Corrispondenza dello strumento globale
Abbinato alla funzionalità avanzata Global Tool Matching, questo approccio rivoluzionario garantisce che SpinSAM possa individuare i difetti più piccoli con una precisione ineguagliabile, permettendoti di utilizzare le stesse impostazioni su diversi sistemi SpinSAM e garantendo risultati coerenti indipendentemente dalla posizione. Con una corrispondenza dello strumento globale, potrai mantenere l'uniformità nei processi di ispezione, ottimizzare le operazioni e raggiungere standard di controllo della qualità ineguagliabili all'interno di tutto il tuo ecosistema di produzione dei semiconduttori.
Tecnologia dei trasduttori proprietaria
Questo innovativo sistema di ispezione acustica garantisce la massima efficienza SENZA sacrificare la precisione.