Serie AMI AW C-SAM®
Ispezione, analisi e smistamento dei wafer senza operatore
La serie AW è costituita da strumenti avanzati C-SAM® automatizzati per wafer ad alta capacità e alta portata specializzati per fornire la massima sensibilità per la valutazione di applicazioni a livello di wafer e dispositivo.
Panoramica
La serie AW è in grado di fornire una sensibilità migliore di 5 micron, una produttività circa due volte più veloce rispetto ai sistemi della concorrenza e scanner non a immersione che eliminano i falsi positivi dovuti all'ingresso di acqua DI.
La serie AW gestisce, ispeziona e ordina automaticamente i wafer in base a criteri di accettazione/rifiuto definiti dall'utente. Il sistema è progettato per gestire prodotti a livello di wafer (sensori BSI, SOI, MEMS, LED, Chip-on-Wafer e wafer non lucidati) fabbricati praticamente con qualsiasi metodo, inclusi i processi Adesione che utilizzano fusione diretta, anodica, fritta di vetro e resina epossidica Adesione.
- Tecniche di legame diretto - gli utenti del sistema hanno scoperto che le rese possono essere notevolmente migliorate ispezionando in tre fasi di produzione: dopo l'iniziale Adesione da parte delle forze di Van der Waals, dopo la ricottura e dopo il diradamento.
- Dispositivi MEMS - La qualità delle guarnizioni di cavità può essere verificata prima della singolarizzazione.
- Wafer grezzi e non lucidati - rilevare i vuoti naturali che causano "fori di spillo" durante le successive elaborazioni.
- LED - esamina automaticamente il Adesione dei livelli e ordina i dadi cattivi e sospetti.
La serie AW sfrutta Nordson Test& Lenti ad alta frequenza acustica proprietarie di Inspection, progettate internamente per ottenere immagini più dettagliate. Sono necessarie lenti speciali poiché i materiali utilizzati in queste applicazioni, come silicio, zaffiro, vetro, GaAs, ecc., possono essere molto trasparenti agli ultrasuoni. È possibile rilevare la delaminazione con la separazione tra i wafer sottili come 200Å Angstrom.
La serie AW300 offre ispezioni completamente automatizzate, è conforme a SECS/GEM e può essere personalizzata in base alle vostre esigenze.
Caratteristiche
- Nordson Test& Il trasduttore Waterfall di Inspection fornisce una scansione senza immersione che riduce al minimo il rischio di contaminazione e false indicazioni di legame.
- Sono disponibili porte di carico doppie (opzionali) per una capacità batch maggiore con porte di carico per supporti FOUP o FSOB da 300 mm, per SMIF da 200 mm e per cassette da 100 mm a 200 mm.
- Nordson Test& Il software di analisi automatizzata di Inspection determina con precisione la percentuale di adesione e/o non incollata, la dimensione e il conteggio dei vuoti, le guarnizioni a cavità aperta e la larghezza minima della sigillatura, nonché un'accettazione/sospetto/rifiuto automatico in base a criteri definiti dall'utente.
- Il pulsatore/ricevitore con larghezza di banda di 500 MHz e i trasduttori ad altissima risoluzione sono progettati e prodotti da Sonoscan per prestazioni No Translation Needed e per generare immagini di qualità superiore.
- Sono disponibili camere bianche di Classe 1000 e camere bianche di Classe 100.
Specifiche tecniche a colpo d'occhio
Per ulteriori informazioni, scaricare la scheda tecnica della serie AW300 e brochure.
| Caratteristiche della serie AW | |
|---|---|
| Cascata
trasduttori |
Utilizzato per la scansione non a immersione |
| Riduce al minimo i rischi e velocizza gli indicatori delle obbligazioni | |
| Porti di carico | Supporti FOUP o FOSB da 300 mm |
| Baccelli SMIF da 200 mm | |
| Cassette aperte da 100 mm a 150 mm | |
| Pulser/ricevitore con larghezza di banda di 500 MHz | |
| Trasduttori ad altissima risoluzione | |
| Software di analisi automatica per determinare: | Percentuale di legame o disimpegno |
| Dimensioni e conteggio vuoti | |
| Accetta/rifiuta automaticamente in base a criteri definiti dall'utente | |
Informazioni correlate
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Brochure& Cataloghi