In-line Particle Sensor™ (IPS™)

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In-line Particle Sensor™ (IPS™)

使用 IPS 和全新 CyberSpectrum™ 软件收集和显示颗粒数据,实时诊断设备。使用 CyberSpectrum 可以更轻松、更快速地比较过去和现在的数据以及不同的设备。实时查看清洗、调整和维修效果。快速定位污染源,节省时间。

概述


通过全天候不间断的实时监控加速设备认证。
使用 IPS 和全新 CyberSpectrum™ 软件收集和显示颗粒数据,实时诊断设备。使用 CyberSpectrum 可以更轻松、更快速地比较过去和现在的数据以及不同的设备。实时查看清洗、调整和维修效果。快速定位污染源,节省时间。

通过在线式颗粒传感缩短设备维护周期。
实时检测颗粒,并将测量结果与工具事件相关联。开发工具和工艺的基准性能。通过选择性地维修导致颗粒产生的工具部件,简化维护周期。

通过客观且可重复的数据降低设备费用。
接收即将发生的设备故障的早期预警并优化您的预防性维护计划。

In-line Particle Sensor™ (IPS™) 产品视频



实时全天候不间断监测


基于我们的 WaferSense® 机载颗粒传感器™技术,IPS 利用高功率蓝色激光快速监测、识别和排除工艺敏感应用中气体和真空管路位置中小至 0.1 µm 的颗粒。
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特性


机械接口 ISO-63 法兰(标准配置)
真空完整性 泄漏率小于 10-6 atm-l/s
高精度 测量颗粒大于 0.1μm

每小时小于 5 个错误计数

激光 通过 1 级激光认证