WaferSense® Auto Vibration System™ (AVS)

WaferSense® Auto Vibration System™ (AVS)

Agilize o monitoramento das acelerações triaxiais e vibração para reduzir partículas, tempo de manutenção e tempo de ciclo.

Vídeo do produto WaferSense® Auto Vibration System™ (AVS)


Visão geral


Agilize a qualificação do equipamento com medições sem fio.

Colete e exiba dados de aceleração sem fio usando o AVS e o software CyberSpectrum™ para diagnóstico de equipamento em tempo real. Veja os efeitos de ajustes em tempo real, agilizando o alinhamento e a configuração do equipamento.

 

Diminua os ciclos de manutenção do equipamento com um acelerômetro semelhante a um wafer.

Observe e otimize movimentos de wafer, cassete, SMIF e FOUP usando o acelerômetro triaxial AVS. Detecte escorregões, patinagens, solavancos, arranhões e manuseio indevido de wafer em tempo real usando o AVS compatível com vácuo, sem abrir a ferramenta. Otimize os parâmetros de movimento assim que a localização ou a ausência de danos no wafer for identificada.

 

Reduza as despesas do equipamento com dados objetivos e reproduzíveis.

Estabeleça uma linha de base a partir de uma ferramenta limpa conhecida e passe o AVS por um wafer de teste para verificar se a operação da linha de base continua. Receba avisos com antecedência para falhas de equipamento iminentes e otimize os planos de manutenção preventiva.

 

Otimize a produtividade do equipamento e o resultado maximizando a aceleração e minimizando a vibração.

Os perfis e as trajetórias de movimento otimizados minimizam os tempos de ciclo, e o manuseio macio, livre de vibrações, minimiza adições de partícula.

Características


Em forma de wafer Disponível em tamanhos de wafer de 200 mm e 300 mm.
Sem fio

Transmite dados para o laptop do PC em tempo real.

Altamente preciso Mede a aceleração em três direções, x, y e z, com uma faixa de +-2G, resolução de +-0,01G e resposta de frequência de 0 a 200 Hz, -3 dB.
Software fácil de usar CyberSpectrum™: Exibe uma resposta visual em tempo real. A leitura digital permite um ajuste mais preciso. Funcionalidade de revisão integrada; repete dados do arquivo de registro para revisão e análise.