MXI Ruby XL

Cartes de grande taille et conditionnement au niveau des panneaux de semi-conducteurs
Zone d'inspection 840 x 615 mm
Le système Option, équipé d'un détecteur Onyx haute résolution, offre une résolution spatiale jusqu'à 1,0 µm (JIMA).

Aperçu

La RubyXL prend en charge des échantillons de très grande taille et des assemblages de masse élevée, ce qui la rend idéale pour l'inspection d'assemblages de circuits imprimés surdimensionnés. Désormais optimisé grâce au progiciel de revalorisation, il offre une meilleure convivialité, une qualité d'image supérieure et des performances d'imagerie 3D avancées.

Avec le détecteur Onyx haute résolution en option, le RubyXL étend ses capacités aux applications semi-conducteurs grand format, y compris l'encapsulation au niveau du verre et des panneaux organiques, atteignant des résolutions d'inspection jusqu'à 1 µm.

Tailles

Zone d'inspection maximale : 33" x 24,2" (840 x 615 mm)
Vues obliques à 70° : 30" x 24" (762 x 610 mm)
Rotation complète à 360° autour d'un point d'intérêt
La configuration isocentrique du manipulateur permet de maintenir les éléments dans le champ de vision.

Avantages

Source de rayons X : NT 100 Sans entretien – Transmission scellée
Détecteur Aspire ou Onyx en option
Imagerie 3D avec X-Plane Pro
Système anti-vibration avec stabilisation d'image radiographique active AXIS
Logiciel : Réévaluation avec mise à niveau optionnelle des fonctionnalités d'IA

Inspection aux rayons X du cristal Transparent

Grâce au détecteur de rayons X Onyx en option, qui offre un bruit réduit et une résolution plus élevée, une meilleure clarté d'inspection peut être obtenue. Le progiciel Revalution est livré avec des mises à niveau optionnelles, notamment X-Plane pour une imagerie 3D impressionnante, l'amélioration d'image HDRlive pour la visualisation des défauts Transparent et les solutions d'inspection IA N-Intelligence pour une détection rapide et précise des défauts.