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EX-QS Wafer Mapping
Lo último en precisión de mapeado de obleas ya está disponible en un formato más pequeño. EX-QS es un modelo EX-Q que se presenta en un formato más pequeño para adaptarse a aplicaciones en las que el espacio es limitado. Los sensores de mapeo de obleas EX-QS le ofrecen la misma fiabilidad que los EX-Q en la detección de obleas y la misma facilidad de integración.
Información general
Características
- EX-QS está disponible en dos distancias: 1.5″ y 2.2″. EX-Q está disponible en 1.5” y 2.2”
- Detecta obleas brillantes, oscuras y recubiertas de distintos tamaños y con distintas formas geométricas de los bordes con el ajuste de ganancia de fábrica.
- Es inmune a las interferencias del entorno de mapeado, como los reflejos difusos.
- La interfaz fácil de usar no necesita ningún tipo de adaptación de señal ni amplificación, lo que reduce el coste total de propiedad de las herramientas
- La solución de mapeo de obleas no intrusiva protege las obleas de gran valor de posibles accidentes involuntarios.
- Sin piezas móviles que puedan provocar contaminación por partículas.
- Detecta obleas con ranuras transversales y ultrafinas.
- Nota: El conector es opcional y debe indicarse en el pedido.