EX-QS Wafer Mapping

EX-QS Wafer Mapping

Lo último en precisión de mapeado de obleas ya está disponible en un formato más pequeño. EX-QS es un modelo EX-Q que se presenta en un formato más pequeño para adaptarse a aplicaciones en las que el espacio es limitado. Los sensores de mapeo de obleas EX-QS le ofrecen la misma fiabilidad que los EX-Q en la detección de obleas y la misma facilidad de integración.

Información general


Características

  • EX-QS está disponible en dos distancias: 1.5″ y 2.2″. EX-Q está disponible en 1.5” y 2.2”
  • Detecta obleas brillantes, oscuras y recubiertas de distintos tamaños y con distintas formas geométricas de los bordes con el ajuste de ganancia de fábrica.
  • Es inmune a las interferencias del entorno de mapeado, como los reflejos difusos.
  • La interfaz fácil de usar no necesita ningún tipo de adaptación de señal ni amplificación, lo que reduce el coste total de propiedad de las herramientas
  • La solución de mapeo de obleas no intrusiva protege las obleas de gran valor de posibles accidentes involuntarios.
  • Sin piezas móviles que puedan provocar contaminación por partículas.
  • Detecta obleas con ranuras transversales y ultrafinas.
  • Nota: El conector es opcional y debe indicarse en el pedido.