BT 4000HS Shear

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BT 4000HS Shear

高速焊接强度测试为 通过向焊球施加高应变率, 复现板级跌落测试的瞬态工况, 成为高效、 经济的替代方案。

概述


  

4000HS 焊接强度测试仪传承 Nordson 卓越标准,以精密运动系统与专利高速传感器技术,确保测试重复性、可靠性,尤重测量数据精准度。

Nordson 4000HS 测试系统 需预留加速区, 使工具(待测焊球)先加速再触球。该功能 通过根据所选速度 自动计算并回退样品支架 至特定距离来实现。 焊接传感器覆盖行业 标准焊球及 C4 凸点尺寸。 

诺信 Paragon™ 软件使 焊接测试进阶到下一个等级, 其高度直观且可配置 界面 更加高效简洁。   

产品视频 BT4000HS Shear

高速焊接强度测试


高速焊接强度测试


智能焊接测试


传统的焊接测试 在低速条件下进行(焊接<1 mm/s,拉拔<5 mm/s), 失效模式以焊料延性破坏为主。研究指出, 无铅焊点易在焊球—焊盘界面脆断, 该失效贯穿整个生命周期; 随着异构集成封装规模扩大, 脆断风险持续攀升。    脆性失效的影响甚至可能比单颗 FC-BGA 的损失更为昂贵。


高速焊接强度测试仪


Nordson 4000HS 焊接强度测试系统 需预设加速区, 令工具先提速后触球。 通过将 样品台按设定速度 自动回退至系统计算距离, 即可完成预加速。 焊接传感器覆盖行业 标准焊球与 C4 凸点的所有尺寸。






高速测试为何至关重要?


接头在制造及服役全过程中均处于 高应变速率影响. 近期, 接头“脆性断裂”成为关注焦点。 其性能退化 并导致服役后期失效, 部分源于制造工艺 缺陷。 高速测试比传统测试 更准确地模拟了这些条件。更有利于 识别潜在的未来故障。


失效力分析


力-位移曲线可揭示不同 焊接失效的“指纹”特征; 结合断裂能 (峰值前后能量细分), 可量化焊接性能 并区分失效模式。 例如, 脆性断裂能通常远低于韧性。 
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诺信 PARAGON


智能系统监测,
实时监测设备寿命、负载盒、校准夹具、健康自检等关键指标。
高级数据呈现,
多图同屏展示, 缩放、拖拽一键完成,
分析更直观。 提供失效模式分级分析,
确保每项测试均可获取量化评估数据。 提供GR&R工具包精准评估焊接强度测试仪的重复性与再现性。






应用


Nordson 4000HS 焊接强度测试仪可服务于半导体(封装组装与测试)、基板制造商(新材料/电镀工艺认证)、材料制造商(新材料认证)、无铅产品认证以及研发&(R&D)与开发领域。

脆性断裂和跌落&冲击测试

高速焊接测试 以高应变速率硬化焊球, 复现跌落冲击, 载荷集中于焊接界面。

检测器件全部互连 

涵盖 BGA、CSP、QFN、SiP、MCM,焊点、键合焊盘及基板 全面评估。

常问问题: 高密度半导体中的接触可靠性测试


  • 问: 为什么触点可靠性在现代半导体器件中如此重要?</a>

    随着半导体器件变得越来越小、越来越复杂,微观互连的可靠性对于确保性能稳定、安全性和长期耐用性至关重要。 即使是微小的缺陷,在产品的生命周期内也可能导致重大故障。

  • 问:半导体器件中的互连是什么? 

    互连线是微小的导电路径,使信号、电源和数据能够在组件之间流动。 它们是所有半导体器件的骨架,对整体功能至关重要。

  • 问:小型化如何影响互连可靠性? 

    微型化技术将互连尺寸缩小到仅几微米,同时提高了互连密度。 这使得它们更容易受到材料和制造工艺变化的影响,从而增加了缺陷的风险。

  • 问: 什么是债券测试?

    Bond 测试是一种通过施加可控力来测量互连线机械强度的方法。 它能提供关于键合完整性的定量见解,并有助于在生产早期发现薄弱连接。

  • 问: 债券测试与传统检验方法有何不同?

    虽然检测技术可以检测出可见或结构缺陷,但键合测试可以评估互连的实际强度,从而更深入地了解长期可靠性。

  • 问: 为什么债券测试被视为关键控制点?

    Bond 测试直接验证连接强度,帮助制造商防止现场故障,提高产品良率,并确保设备在其整个使用寿命期间满足可靠性要求。

  • 问:先进封装技术带来了哪些挑战? 

    FOWLP 和 3D 堆叠等先进封装方法引入了复杂的材料相互作用和应力变化,使得保持一致的测试变得更加困难,需要更精确的测试方法。

  • 问: 为什么自动化保税系统如此重要?

    自动化提高了测量精度、重复性和吞吐量,同时减少了人为错误。 它还能提高可追溯性,并实现数据驱动的流程优化。

  • 问:人工智能如何改变债券行业?测试 

    诺信智能 AI 通过实现更快、更一致的故障分类、识别数据中的模式以及帮助在生产周期的早期检测过程风险来增强债券测试。

  • 问: 键合测试在半导体制造领域的未来是什么?

    Bond 测试正在演变为一个智能的、数据驱动的过程。 未来的系统将结合精确测量、自适应采样、自动化和高级分析,以支持下一代半导体技术。