SIM (Strobed Inspection Module) はすべての CyberOptics’ 2D AOI システムの核心部分です。CyberOptics が独自に設計、製造した SIM は、110cm²/秒で高性能検査を実施します。キャリブレーションは全く不要です。
QX250i の
AI² (Autonomous Image Interpretation) テクノロジーにより超高速プログラミングが可能となり、ゼロから生産準備完了までの所用時間は 13 分*とかかりません。80 メガピクセルセンサーを搭載した QX250i™ は、はんだ接合と 01005 の検査性能が大幅に向上しています。

リフロー前検査からウェーブはんだ付けおよび選択的はんだ付け後の検査まで、QX250i は、鮮明な画像を提供して欠陥レビューの精度を高めます。
コプラナリティ、ピン/コンポーネントの欠落、はんだ不足やブリッジなど、欠陥を検査して確認します。

QX600™ は、照明を強化した SIM テクノロジー (Strobed Inspection Module) を使用して設計され、01005 とはんだ接合のかつてない最高の検査性能を提供します。

高いセンサー解像度 (12 µm) は、鮮明で完全な高品質画像を提供して欠陥レビューの精度を高めます。

QX250i™ AOI 検査システムは、すべてのアプリケーションに高速で柔軟な高性能検査を提供し、リフロー前の抜き取り検査に最適です。照明を強化した上部と下部の高解像度 Strobed Inspection Modules (SIM) は、検査と欠陥レビュープロセス対応のシングルプラットフォームを提供し、生産ラインを短くして生産性を 50% 近く高めます。

QX150i™ AOI システムは、すべての用途に対応する高い価値と柔軟性があり、リフロー前の抜き取り検査に最適です。QX150i™ は Strobed Inspection Module (SIM) を搭載しており、即時検査を可能にして高速かつスムーズなプロセスを実現します。

QX150™ は、照明を強化し一新した SIM (Strobed Inspection Module) を搭載して、確実なインライン検査性能を実現します。SIM により、即時検査が可能となり、QX150™ は 200 cm²/秒のかつてない高速テーブルトップとなりました。高いセンサー解像度 (12µm) は、優れた品質画像を提供して欠陥レビューの精度を高めます。さらに、SIM は常にキャリブレーション不要です。

QX150™ には、すべての QX インライン AOI システムと 100% のプログラム互換性もあります