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AXI XS-Serie

Die hochauflösende Inline-AXI-Plattform für 3D-Inspektion liefert unglaubliche Details für Nordsons Null-Fehler-Strategie.
Dynamic Planar CT ist die überlegene Software für die nächste Generation der 3D-Planar-Röntgeninspektion, die AXI auf die nächste Stufe hebt.

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Überblick

Die XS-Serie bietet eine Plattform für Inline- oder Insel-Röntgensysteme, die ein breites Spektrum an automatisierten Röntgeninspektionsanwendungen (AXI) abdecken. Mit bis zu 4 fortschrittlichen Bildaufnahmemodi haben Sie mit dem Test-Setup die optimale Lösung für alle Ihre Anwendungen und Inspektionsanforderungen. Drei dedizierte Systemkonfigurationen bedienen den Halbleitermarkt:

Halbleiter – Hochauflösende Drahtbondprüfung.
Semiconductor Pro Strip – Inspektion von Drahtbond- und Flip-Chip-Verbindungen in ultrahoher Auflösung.
Semiconductor Pro Tray - Ultrahochauflösende Inspektion von Drahtbond- und Flip-Chip-Verbindungen mit Handhabung für JEDEC-, Stahl- und Spezialträger.

Erfassungsmodi

Das modulare AXI-Systemkonzept bietet die einzigartige Möglichkeit, mehrere Erfassungsmodi in einem System zu nutzen.
Je nach der konkreten No Translation Needed-Anfrage kann die No Translation Needed-Inspektionstechnik ausgewählt und/oder kombiniert werden.

2D-Übertragung

Orthogonale zweidimensionale Bildgebung mit beweglichem Probenhalter und fester Detektorposition.

SFT-Slice-Filtertechnik

Patentiertes Inspektionsverfahren zum Vergleich von Referenzmustern und zur Hintergrundbereinigung für die Analyse.

Schräger Winkel außerhalb der Achse

Off-Axis-Inspektion (≤30°) durch Detektorbewegung für hochleistungsfähige, schräge Winkelabbildung.

Dynamische planare Computertomographie

Die nächste Generation der hochwertigen 3D-Inspektion, die eine Hochgeschwindigkeits-Detektorbewegung (3 Sek./FoV) nutzt.

Vier in einem – Fortschrittliche Technologie

Fortschrittliche Hardware-Technologien

Hochgeschwindigkeits-AXI-System mit minimalem Standfläche für Inline-Setups
Wartungsfreie, gekapselte Mikrofocus-Röntgenquelle
5-Achsen-programmierbares Bewegungssystem
Hochauflösender, schneller digitaler Flachbilddetektor
Niedrigdosis-Strahlungsfilter für dosisempfindliche Geräte

Highlights

Auswahl für automatisches Barcode-Lesen und Prüfen
Vollständige Rückverfolgbarkeit über MES- und SECS/GEM-Schnittstellen
IPC-CFX-2591, IPC-Hermes/9852 und Industrie 4.0 lesen

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Anwendungen

Drahtbondprüfung

Gold- oder Kupferdraht Verklebung (≥0,6 mil) einschließlich gestapelter Dies. Unsere hochentwickelte, firmeneigene Algorithmenbibliothek umfasst eine spezialisierte Drahtfehlerprüfung für Sweep, Schleifenhöhe, Kurzschlüsse, abgesenkte, durchhängende, fehlende, gebrochene, abgehobene Drähte und Leadframe-Verformungen.

Lötstellenprüfung

Unsere Fähigkeiten zur Fehlererkennung umfassen auch die Inspektion der Lötstellenabdeckung, der Verschiebung mehrerer Chips, der Rotation, der Lufteinschlüsse, der Fremdkörperprüfung und der Kurzschlüsse.

Inspektion von Micro-BGA- und Flip-Chip-Bumps

Unsere hochentwickelten Algorithmen zur Erkennung von Kugel- und Noppenfehlern umfassen die Prüfung auf Brücken, Fremdmaterial, verformte, geneigte und fehlende Kugeln sowie die Prüfung gestapelter Werkzeuge auf Mikrohohlräume.

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Nordson MIPS AXI Software Suite

Röntgensteuerung – Feinabstimmung – Überprüfung – Bildbrowser

Nächste Generation Dynamischer PCT

MIPS-Software & Inspektionswerkzeuge

16-Bit-Bildverarbeitung
Automatische Graustufen- und Geometriekalibrierung
Teach&Go für die schnelle und einfache Erstellung von Inspektionen
Proprietäre Bibliothek für fortschrittliche Algorithmen
Fehlerklassifizierung basierend auf maschinellem Lernen
Extraktion und Analyse von mehrschichtigen Schnitten
Softwarebasierte Verzugskompensation verfügbar

Dynamische planare Computertomographie

Die nächste Generation der 3D-Planarinspektion

Beschleunigte Datenerfassung – mehr als doppelt so schnell wie bei der planaren CT
Verbesserte Datenqualität – Transpatente-Schichttrennung
Überlegene Rekonstruktion – brandneuer 3D-Algorithmus
Höherer UPH – dramatisch erhöht Durchsatz
Größeres Sichtfeld – erhöhte Abdeckung – kürzere Zykluszeiten &
Geringere Strahlendosis – verkürzte Expositionszeit
Reduzierte Komplexität & CoO – keine spezielle Klemmung erforderlich

Nordson SIGHT

Unser neues Paket zur statistischen Prozesskontrolle (SPC) für AXI & AOI

Analysieren – mit fehlerdatengesteuerter Statistik & Ertragsüberwachung
Visualisieren – mit Grafiken, Diagrammen & CAD-Fehlerkartierung
Bewerten – Überwachen Sie KPIs in Echtzeit oder im Zeitverlauf mit Trendanalysen
Bericht erstellen – umfangreiche Auswahl an individuell anpassbaren Berichtsoptionen
Warnmeldungen – Alarme & , die durch definierbare Kriterien ausgelöst werden
Konzentriere dich auf das, was dir wichtig ist – anpassbares Dashboard-Layout & Inhalt
Deep Dive – deutlich mehr Drilldown-Funktionalität als über MES verfügbar.

Nordson INTELLIGENCE

Maschinelles Lernen und KI nutzen, um Fehlalarme zu reduzieren

Erhöhte Effizienz – deutliche Reduzierung von Überdimensionierung & und damit der Arbeitsbelastung des Bedieners
Höheres Vertrauen – Fehlerklassifizierung basierend auf statistischer Wahrscheinlichkeit (quantitativ)
Bessere Konsistenz – weniger Abweichungen und Subjektivität zwischen den Bedienern & &
Kontinuierliche Verbesserung – Verfeinerung des KI-Modells im Laufe der Zeit durch zusätzliche Daten