Das SIM (Strobed Inspection Module) ist der Kern jedes CyberOptics’ 2D AOI-Systems. Das SIM wird ausschließlich von CyberOptics gefertigt und ermöglicht Inspektionen mit hoher Leistung bei 110 cm²/s – dazu ist es absolut kalibrationsfrei.
Die
AI² (Autonomous Image Interpretation)-Technologie im QX250i gewährleistet ultraschnelle Programmierung und kann Sie in weniger als 13 Minuten* vom absoluten Beginn bis zur Produktionsbereitschaft bringen. Mit einem 80-Megapixel-Sensor verbessert das QX250i™ die Lötstellen- und 01005-Inspektionsleistung deutlich.

Von der Pre-Reflow-Inspektion bis zur Post-Wave- und Post-Selektiv-Lötmittelinspektion bietet das Modell QX250i glasklare Bilder und ermöglicht so präzisere Fehlerprüfungen.
Inspektion und Prüfung auf Defekte, einschließlich Koplanarität, fehlende Pins/Komponenten, unzureichende Lötmittel, Lötbrücken und vieles mehr.

Das Modell QX600™ bietet SIM (Strobed Inspection Module)-Technologie mit erweiterter Beleuchtung – für bestmögliche Leistung bei 01005- und Lötstelleninspektionen.

Mit einer höheren Sensorauflösung (12 µm) erhalten Sie glasklare und perfekte Bilder für präzisere Defektprüfungen.

Das QX250i™ AOI-System ermöglicht schnelle, flexible und leistungsstarke Inspektionen für alle Applikationen und ist ideal für Pre-Reflow- und Selektiv-Lötmittelinspektionen geeignet. Die oberen und unteren Strobed Inspection Modules (SIMs) mit hoher Auflösung und verstärkter Beleuchtung bieten eine einzige Plattform für die Inspektion und Fehlerprüfung, die Produktionslinien verkürzt und Produktivitätsverbesserungen von ~50 % ermöglicht.

Das QX150i™ AOI-System bietet hohen Mehrwert und Flexibilität für alle Applikationen und ist ideal für Pre-Reflow- und Selektiv-Lötmittelinspektionen geeignet. Das Strobed Inspection Module (SIM), das zentrale Element des QX150i™, ermöglicht fließende Inspektionen für schnellere und reibungslose Prozesse.

Das Modell QX150™ basiert auf einem brandneuen SIM (Strobed Inspection Module) mit verstärkter Beleuchtung – für absolut korrekte In-line-Inspektionsleistung. Das SIM ermöglicht fließende Inspektionen, wodurch das QX150™ das schnellste Tischgerät aller Zeiten ist – mit 200 cm²/s. Eine höhere Sensorauflösung (12µm) bietet Bilder mit überlegener Qualität für präzisere Defektprüfungen. Dazu kommt wie immer, dass das SIM keinerlei Kalibrierung benötigt.

QX150™ bietet dazu 100 % Programmkompatibilität mit allen QX-Inline-AOI-Systemen