WaferSense® Auto Teaching System™ (ATS2)

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WaferSense® Auto Teaching System™ (ATS2)

采集三维偏移数据(x、y 和 z)以快速提供晶圆传输位置指示。

产品视频 WaferSense® Auto Teaching System™ (ATS2)



演示文稿 WaferSense® Auto Teaching System™ (ATS2) 




概述


通过精确的晶圆handoff校准提高产量并减少微粒污染。

通过晶圆形的 ATS 在半导体设备中移动,采集偏移数据以精确校准传输位置。使用校准设备提高制造过程的产量。

实现可重复和可再现的半导体设备安装。

通过 ATS 校准流程消除技术人员之间的差异,实现可重复和可再现的设置和维护检查。

将设备停机时间从几小时缩短至几分钟。

使用无线和真空兼容的 ATS,设备在检查过程中保持密封,从而减少故障排除时间。提高设备可用性并减少人力和消耗品支出。

通过目视检查加快故障排除速度并降低耗材费用。

机器人通过工具移动 ATS 时接收实时图像。新的 CyberSpectrum™ 软件图形用户界面提供 x、y 和 z 偏移,可消除猜测。无需打开工具即可搜索丢失的晶圆并验证基座是否没有碎片。

特性


晶圆状

提供 200 毫米和 300 毫米晶圆尺寸。

无线和真空兼容 像晶圆一样移动,并且由于设备在检查过程中保持密封,因此花费的时间更少。实时传输数据。
高精度 x 和 y 位置精确至 +-0.1 毫米(+-0.004 英寸);z 位置精确至 +-0.8 毫米(+-0.03 英寸)。
易于使用的软件 CyberSpectrum:显示实时视频和目标特征的测量、日志偏移和用户评论。提供直径为 3-10 毫米的圆形特征教导。集成审查功能;重播日志文件数据以进行审查和分析。