自動光学検査

SQ3000+ はAOI、SPI、CMM 向けのオール イン ワン ソリューションで、高精度かつ高速という他にないコンビネーションを兼ね備えているだけでなく、さらに解像度の高い Multi-Reflection Suppression® (MRS®) センサーを搭載し、コンポーネントの光沢や表面の鏡面反射など反射が原因の歪みを抑制します。
特別設計 あるいはハイエンド用途のシステムで、高度な梱包、小型 LED、高度 SMT、008004/0201 SPI、ソケット計測など、ハードルの高い CMM 用途に適しています.

 

AOI、SPI、CMM 向け SQ3000 マルチファンクション システムは、重大な欠陥を特定し臨界パラメーターを測定でき、効率的な生産高管理に優れたプロセスコントロール ソリューションをお届けします。AOI、SPI 用途に加えて、従来の三次元・座標測定器 (CMM) – よりもスピーディーに、時間単位でなく秒単位で、高精度の三次元・座標測定結果を得ることができます。 世界初のインライン CMM には、すべての臨界点に計測グレード測定を行う広範なソフトウェア スイートが含まれています。 

新しい Dual-Mode MRS センサーが SE3000™SPI System  に搭載されており、高速検査モードと高速解像度検査モードで、はんだペースト検査に特化した用途に最大限のフレキシビリティをもたらします。新しいセンサーは特許取得の MRS センサー ポートフォリオの新たなラインナップで、  コンポーネントや表面の光沢が反射して起きる歪みを抑制します。  SE3000 は高さ、面積、容量の測定、登録、ブリッジングだけでなく、ペースト不足、過剰な高さ、汚れ、補正などの検知にも理想的な機器です。