WaferSense® Airborne Particle Sensor™ (APS3)

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WaferSense® Airborne Particle Sensor™ (APS3)

通过实时无线监测空气中的颗粒来改进设备安装和提高长期良率。更薄、更轻、精密准确。

产品视频 WaferSense® Airborne Particle Sensor™



概述


通过无线测量加快设备验证。

使用 APS3 和 CyberSpectrum™ 软件无线收集和显示颗粒数据,以进行实时设备诊断。使用 ParticleSpectrum 比较过去和现在,设备以及一种工具™。通过快速定位污染源并实时查看清洁、调整和维修的效果来节省时间。

 

通过类似晶圆的外形缩短设备维护周期。

无需打开设备即可实时检测颗粒,因此无需’将工艺区域暴露在外。更薄、更轻的 APS3 可轻松找到颗粒污染晶圆的地方。一旦确定颗粒的位置,就可以选择性地清洁设备。仅打开脏的部分,让干净区域保持干净。

 

通过客观且可重复的数据降低设备费用。

利用 APS3 提高monitor晶圆的首次通过成功率、降低验证费用并提高可用性。接收即将发生的设备故障的早期预警并优化您的预防性维护计划。根据已知的干净设备建立基准,然后在使用monitor晶圆之前循环使用 APS3测试。

特性


晶圆形

提供 150 毫米、200 毫米和 300 毫米晶圆尺寸。

无线

将颗粒数据实时传输到您的笔记本电脑或 PC。

测量大于 0.14 微米的颗粒 报告 0.1μm 和 0.5μm bin尺寸的颗粒以及 2、5、10 和 30 μm bin尺寸的较大颗粒。
易使用的软件 CyberSpectrum™ 应用软件为用户提供实时直观反馈,并可以记录和重播记录的数据以供审查和分析。