诺信
测试 & 检测 系列产品提供了广泛的解决方案,充分满足半导体行业的需求。 电子半导体和其他高可靠性应用要求对部件测试进行严格检测,以确保可靠性。 我们的产品提供了非侵入式的检测解决方案,为可实时的提供制程信息、有效地抓取缺陷及提升良率。它们也是发现制程中问题的有效方式。
在集成电路生产过程中,必须对每个晶粒表面是否存在裂纹、切屑、烧焦痕迹等进行检查,因为这些缺陷会对晶粒的质量和性能产生负面影响。这些缺陷是可变的,并且位于不同的位置,因此及时准确地找到它们非常困难。
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测试 & 检测 解决方案提供了至关重要的检测能力,可在半导体制造中对元件内部进行非破坏的检测,或检测一个元件本身的焊接不良。