Übersicht

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Präzision auf Metrologie-Niveau bei Produktionsgeschwindigkeit
Erhalten Sie absolut präzise Daten mit der branchenführenden Multi-Reflection Suppression® (MRS®) Sensortechnologie, die Reflektionen von glänzenden Komponenten und reflektierenden Lötstellen präzise identifiziert und zurückweist. Da die effektive Unterdrückung einer Mehrfachreflektion von kritischer Bedeutung für hoch genaue Messungen ist, stellt MRS die ideale Technologie für eine breite Palette von Applikationen dar, darunter auch solche mit sehr hohen Qualitätsanforderungen.

Wählen Sie zwischen zwei identischen oder zwei unterschiedlichen MRS-Sensoren.

Flexibilität auf höchstem Niveau
Inspizieren Sie Baugruppen mit hohem Volumen, unterschiedliche Baugruppen und unterschiedliche Platinengrößen gleichzeitig auf verschiedenen Spuren. Sie können sogar vom Dual- zum Ein-Spur-Modus wechseln, um sehr große Platinen zu inspizieren.

Inspizieren Sie verschiedene Programme auf unterschiedlichen Spuren und führen Sie synchrone oder asynchrone Inspektionen durch.

Schnelle, intelligente und benutzerfreundliche Software
Geringerer Schulungsaufwand und minimale Bedienerinteraktionen mit der intuitiven Oberfläche der AOI-Software, Multi-Touch-Steuerelementen und 3D-Bildvisualisierungstools – Benutzerfreundlichkeit auf ganz neuem Niveau.

Schnelles Programmieren mit AI2 (Autonomous Image Interpretation) für einfache Verfahren – ohne Anpassung von Parametern oder Feineinstellung von Algorithmen.

Bessere Erträge mit vollständigen SPC-Kapazitäten von Maschinen- bis Werksebene mit leistungsstarken Verlaufsanalyse- und Berichtstools in CyberReport™. Verbessern Sie die Nachverfolgbarkeit für Prozessverifizierung und Ertragsverbesserungen.