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概述
MiniTrak O-Frame 扫描仪提供快速、准确、可靠的测量性能,并紧密集成到智能分布式面材测量架构中。 该框架可与近红外、X 射线和 β 等透过产品进行测量的仪表一起使用。 MiniTrak-O 框架扫描仪支持 最多两个质量传感器。 8 英寸箱形截面结构使这款 紧凑型扫描仪能够适应一些 要求最严格的工艺位置。
适用于面材宽度范围从 575 毫米至 4325 毫米 (22.6 英寸至 170 英寸)。
MiniTrak O-Frame 扫描仪提供快速、准确、可靠的测量性能,并紧密集成到智能分布式面材测量架构中。 该框架可与近红外、X 射线和 β 等透过产品进行测量的仪表一起使用。 MiniTrak-O 框架扫描仪支持 最多两个质量传感器。 8 英寸箱形截面结构使这款 紧凑型扫描仪能够适应一些 要求最严格的工艺位置。
适用于面材宽度范围从 575 毫米至 4325 毫米 (22.6 英寸至 170 英寸)。