FilmPro - 红外测厚仪

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FilmPro - 红外测厚仪

FilmPro 红外透射仪可为各种薄膜、薄片和涂层应用提供准确、可重复、高分辨率的基重和厚度测量。

概述


诺信 FilmPro™ 红外测量仪旨在为涵盖广泛应用和工艺的薄膜、薄片和涂层产品提供准确、可重复、高分辨率的厚度测量。 FilmPro 通过其专利的红外设计和世界一流的光学元件提供 No Translation Needed 测量性能。 FilmPro 经过精心设计,可以在不同的过程或环境条件下提供可靠的测量,例如照明波动、温度变化、湿度变化、气压漂移、面材颤动和扫描仪机械跳动。

 

特点 & 优点


  • 非电离辐射测量。
  • 高效的光学设计 可实现最佳精度。
  • 模块化 FSO(条纹抑制 光学器件)附加组件可对薄的明确薄膜进行卓越 测量。
  • 测量薄膜至厚片以及薄膜基材上的 涂层。
  •  最多 6 个组件的多层区分。

应用


  • 演電影。
  • 挤压板材。
  • 双轴取向薄膜。
  • 吹塑薄膜。
  • 阻隔层薄膜
  • 薄膜基材上的有机和水性涂层。
  • 空隙化/珠光化、微孔、电池隔膜和透气薄膜。 

非核技术


betaX 射线 仪表不同,FilmPro 易于维护,并且不需要 特殊的辐射许可证、防护 或联锁安全门。 FilmPro 安装简便, 其测量 精度通过其简单的 校准技术得到保证。 

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改进的光学引擎


薄的明确薄膜会产生反射光,从而产生光学干涉 (OI)。 OI 会对红外胶片测量的准确性产生负面影响。 FilmPro 设计有可选的边缘抑制光学 (FSO) 模块,用于测量薄膜。 FSO 模块包含一个新的、更高效的光学系统,该系统不受薄膜厚度变化以及扫描仪错位或跳动的影响。 与我们上一代仪表相比,新型 FSO 光学器件显著提高了测量性能。

多功能制造量规


FilmPro 可以 测量薄膜和薄片。 它适用于明确、 有色、空隙/珠光或整体或条纹着色的产品。 它可以测量空隙、微孔 或透气薄膜的真实厚度以及重量,并得出密度。 但 同时, 昂贵的阻隔材料,如尼龙、EVOH 或 PVDC 也与其他聚合物,如 PE、PP 或 离子聚合物。

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