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BenchMike Pro - Micrômetro de inspeção de amostra
O principal medidor de diâmetro off-line de alta precisão do setor & sistema de medição de ovalidade. A melhor solução de bancada para inspeção de amostras automatizada e manual.
Visão geral
O BenchMike Pro fornece medições de diâmetro rápidas, precisas e repetíveis & medições de ovalização de tubos, mangueiras, fios, cabos, fibras ópticas e outros produtos cilíndricos/redondos cortados. Graças à sua tecnologia de laser sem contato, precisão inigualável e design compacto, este sistema de medição de bancada é usado no mundo todo em plantas de extrusão e laboratórios de controle de qualidade (CQ) para dar aos operadores e técnicos feedback imediato sobre as dimensões do produto.
Características & Benefícios
- Mais de 15.000 medidores instalados no mundo todo nos principais fabricantes.
- Os principais fabricantes confiam na precisão de ±0,9 μm e na repetibilidade de ±0,25 μm do BenchMike para produzir produtos de qualidade superior.
- Não distorce a peça nem risca a superfície do produto e elimina erros de medição influenciados pelo operador.
- A interface gráfica intuitiva com tela sensível ao toque, a biblioteca de receitas de produtos de fácil acesso e a integração de E/S Flexíveis tornam o uso do BenchMike Pro muito fácil.
- Poderosas capacidades de conectividade Ethernet, comunicação e controle (pronto para a Indústria 4.0).
Dois Modelos disponíveis
| BenchMike Pro 2025 | BenchMike Pro 2050 | |
| Faixa de medição | 0,100 a 25,4 mm (0,004 a 1,0 pol.) | 0,254 a 50 mm (0,010 a 2,0 pol.) |
| Repetibilidade | ±0,25 µm (0.000010 pol.) | ±0,5 µm (0.000020 pol.) |
| Precisão | ±0,76 µm (±0.000030 pol.) | ±1,5 µm (±0.000060 pol.) |
| Área de medição Profundidade de campo | ±0,75 x 25 mm (±0,030 x 1,0 pol.) | ±1,5 x 50 mm (±0,060 x 2,0 pol.) |
| Velocidade do feixe de laser | 50 m/seg. (2.000 pol./seg.) | 100 m/seg. (4.000 pol./seg.) |
| Coeficiente de temperatura | <0,2 µm/°C (<0.000004 pol./°F) | <0,2 µm/°C (<0.000004 pol./°F) |
| Calibração | Calibrado de fábrica | Calibrado de fábrica |
| Taxa de varredura | 100/seg | 100/seg |
Medição de diâmetro externo off-line de fios e cabos
O dispositivo de fixação do mandril rotativo permite a rotação motorizada de eixos ou fios para detectar variações no diâmetro ao redor da circunferência. O BenchMike Pro utiliza o que há de mais moderno em tecnologia de medição a laser para fornecer medições de diâmetro externo de alta precisão de fios e cabos dentro de Especificações menores que 1µm (0,00004 pol.).
Medição de diâmetro off-line de fios ultrafinos
O bloco em V para fios ultrafinos foi projetado para fios ultrafinos ou outros materiais que devem ser mantidos sob tensão para medições precisas. Mantém fios na faixa de 0,025 a 0,254 mm (0,001 a 0,010 pol.). É usado com Tamanho de ponto pequeno Opção.
Medição off-line de ID/OD/parede de tubos médicos
Para medições precisas de ID, OD e espessura de parede em tubos de pequeno diâmetro e paredes finas, como tubos médicos, basta colocar uma amostra de tubo no acessório ID/OD/parede, aplicar a força desejada na amostra e o BenchMike calculará todas as dimensões.
Medição de diâmetro externo off-line de tubos e tubulações
Para medições precisas de OD, basta colocar a amostra do tubo ou cano no suporte do bloco em V e o BenchMike fará a medição instantaneamente. Usando o V-block e o BenchMike, um operador pode medir dezenas de peças por minuto e com um nível de precisão muito maior do que qualquer outro método disponível para inspeção de amostras. E com o uso da tecnologia laser, as medições serão repetíveis de um operador para outro.
Pipe & Tube Off-Line ID/OD/Wall Measurement
BenchMike Pro delivers fast ID, OD, and wall thickness measurements on pipe or tube samples. The ID/OD/Wall fixture can automatically rotate a sample to a pre-defined number of positions for measurements at multiple points around the product. This rotation also allows for the calculation of concentricity and ovality of the product. The graphical user interface has options to view the rotational cross section of the product and a graph that shows deviation or variation at the various rotational degrees of measurement.