Metrología de semiconductores

Metrología de semiconductores

Inspección y metrología de obleas

Bienvenido a AXM

Solución de metrología e inspección por rayos X en línea y basada en laboratorio


Prueba de Nordson& La inspección ofrece una amplia gama de soluciones de metrología e inspección por rayos X en línea y basadas en laboratorio para evaluar y monitorear la calidad del nivel de obleas.

 

Comprobación de forma, nivel de llenado y vaciado en TSV a través de vías de silicona.
Inspeccione la calidad de construcción, las conexiones de los cables, la alineación de los componentes y la soldadura& anulación de adhesivo durante la fabricación de MEMS.
Compruebe la presencia de protuberancias, la forma, la posición y los huecos en las protuberancias de las obleas.
Encuentre defectos como juntas frías, cabeza en la almohada y desalineación en paquetes de nivel de oblea 2.5D y 3D.

 

Nuestros productos

Productos AXM de prueba e inspección de Nordson


XM8000-7P


El Nordson XM8000-7P está diseñado específicamente para la inspección por rayos X de paquetes a nivel de panel con un tamaño máximo de panel de 510 mm x 515 mm. 
Permite a los fabricantes identificar incluso los defectos más pequeños, enterrados dentro de los paquetes de semiconductores multicapa a nivel de panel. El sistema de 7 ejes incluye un cardán detector para capacidades 3D que es el pináculo de la precisión para la metrología por rayos X totalmente automatizada.


XM8000 Series

XM8000-7 Pro


Diseñado para las aplicaciones de embalaje avanzadas más exigentes, el Nordson XM8000-7 Pro establece un nuevo referente en metrología 3D de alto rendimiento. Concebido para ofrecer una repetibilidad y precisión excepcionales, el XM8000 Pro proporciona una reconstrucción 3D a nivel submicrónico con una fidelidad de imagen y un rendimiento inigualables.


Ver más

XM8000-5


Nordson XM8000-5 es el sistema de metrología por rayos X más rápido del mercado, integrado con un detector Aspire™ XL de gran campo de visión (FOV). Está optimizado para la inspección de alto rendimiento y alta precisión, por lo que es vital para obleas de semiconductores muy pobladas.
Datasheet