概述

特殊电路会自动控制激光发射的时间，避免由于表面颜色和纹理的差异导致的测量错误。激光高度探测器可以在一次持续动作中完成所有的高度测量，没有Z轴上的运动，速度是机械高度探测的5倍。

特点

• 高度探测重复精度为25个微米(1 mil), 3 sigma
• 非接触激光高度探测不必对精密基板、混合电路和集成电路进行实际接触
• 同时也消除了弯曲、振动和基板污染问题
• 高速光处理能力适应更快的生产能力和更大的产量
• CCD 探测技术能够对各种基板颜色和材质进行精确的探测
• 激光发射控制电路和自动增益功能提高了各种基板的测量精度
• 与Nordson ASYMTEK 紧凑型接触式高度探测器可以互换
• 适用于所有Nordson ASYMTEK系统