随着半导体技术的发展，封装变得越来越复杂，尺寸也显著变小。这两个因素向半导体的处理和测试提出了新的挑战。Nordson DAGE 在半导体行业拥有相当丰富的经验，拥有各种先进的测试设备（包括自动化解决方案），可以满足半导体测试中对专用测试技术的需求。
Nordson DAGE XD7600NT100CT 是用于非破坏性半导体检测的超级系统。它能够以高分辨率的快速 CT 技术检测 100 纳米级的特征，是该应用领域的公认行业标准。市面上尚无其他检测系统可识别如此小的特征。这意味着操作员可轻松看到塞住的通道和其他微小特征。