반도체

반도체 기술이 발전함에 따라 패키지의 복잡성이 증가하고 크기가 대폭 줄어들고 있습니다. 이 두 가지 요인은 반도체 핸들링 및 시험의 새로운 과제로 대두되고 있습니다. 반도체 업계에서 다양한 경험을 쌓아 온 Nordson DAGE는 반도체 시험에 필요한 전문 시험 기술을 지원하는 고급 솔루션을 포함하여 다양한 고급 시험 장비를 제공합니다.

Nordson DAGE XD7600NT100CT는 비파괴 반도체 검사에 가장 적합한 시스템입니다. 100나노미터의 형상을 인식할 뿐 아니라 빠른 고분해능 CT 기능을 갖추고 있어 이 분야에서 업계 표준으로 인정받고 있습니다. 현재 출시된 다른 검사장비 중에서 이 정도로 작은 형상을 인식하는 제품은 없습니다. 즉, 작업자가 충진된 비아(Via)와 기타 세밀한 형상을 쉽게 확인할 수 있습니다.

주요 제품

컴퓨터 단층 촬영

u-CT 검사 옵션은 컴퓨터 단층 촬영(CT) 기능을 제공하여 Dage 비파괴 검사장비에서 사용 가능한 2D 비파괴 검사 기능을 보완합니다. Dage 비파괴 검사장비에서 제공하는 Dage u-CT 옵션은 성능 우수성을 인정받은 서브 미크론 단위의 형상 인식 2D X선 이미지를 사용하여 특히 크랙, 보이드(Void), 리버스 엔지니어링 응용 분야에서 3D 샘플 분석, 가상 마이크로 분할 및 내부 크기 측정에 가장 적합한 CT 모델을 생성합니다.

Dage -CT 옵션을 사용하면 시간이 많이 걸리는 마이크로 분할 분석 횟수가 줄어드는 한편 마이크로 분할 준비 및 조사를 집중적으로 수행해야 하는 부분을 식별하기가 수월해집니다.