Einhergehend mit der Weiterentwicklung der Halbleitertechnologie werden die Gehäuse immer komplexer sowie gleichzeitig bedeutend kleiner. Diese beiden Aspekte stellen neue Herausforderungen an die Handhabung und das Testen von Halbleitern. Nordson DAGE verfügt über umfassende Erfahrung innerhalb der Halbleiterindustrie, infolge derer wir eine große Bandbreite moderner Testausrüstung, einschließlich automatisierter Lösungen, anbieten, die den erforderlichen speziellen Methoden zum Testen von Halbleitern gerecht werden.
Das Nordson DAGE XD7600NT100CT ist das ultimative System für die zerstörungsfreie Halbleiterinspektion. Aufgrund seiner Fähigkeit, Details von 100 Nanometer Größe zu erkennen und kombiniert mit schneller und hochauflösender Computertomografie, wird es als Industriestandard für diese Anwendung betrachtet. Kein anderes derzeit lieferbares Inspektionssystem ist in der Lage, solch kleine Details zu erkennen. Dies bedeutet, dass beispielsweise gefüllte Bohrungen und andere winzige Details für den Betreiber problemlos erkennbar sind.